GalvanoTest 2000測(cè)厚儀EPK庫倫法上海代理
GalvanoTest 2000: 電解液靠波輪式噴嘴提供動(dòng)力,庫侖法確保測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確、可靠，儀器使用簡(jiǎn)便。測(cè)量操作由儀器的指令自主完成，操作者不需要專業(yè)知識(shí)。設(shè)計(jì)為易用，GalvanoTest 2000不需要特定的操作員技能，只有zui少的培訓(xùn)才能進(jìn)行實(shí)際測(cè)量。
測(cè)量方法：陽極溶解的方法,也稱為法拉第的電量的方法,在電鍍工藝的線路上運(yùn)作:通過電解質(zhì)的電流從襯底上分離單個(gè)金屬涂層。通過分別測(cè)量電流和時(shí)間的電化學(xué)測(cè)試確定涂層的厚度。庫侖法原理是測(cè)量多層系統(tǒng)的各個(gè)層的低成本方法，例如鉻和鎳加銅在鋼上一個(gè)接一個(gè)地測(cè)量。 連接到MiniPrint數(shù)據(jù)打印機(jī)，GalvanoTest提供測(cè)量結(jié)果和統(tǒng)計(jì)的完整文檔。 對(duì)于特定的測(cè)量分析或以后的參考，也可以打印去鍍過程中的特征電壓曲線。GalvanoTest 精密測(cè)厚儀，測(cè)量涂層厚度的設(shè)備，根據(jù)庫侖法原理，用于幾乎所有電鍍單層或多層涂料：電鍍涂層如鉻、鎳、鎘、銅、黃銅、銀、金、錫、鋅可以測(cè)量金屬或非金屬。
德國(guó)EPK (Elektrophysik)公司GalvanoTest 2000庫倫測(cè)厚利用庫侖電量分析原理，測(cè)量鍍層、多層鍍層厚度。
◆可以測(cè)量70種以上鍍層/基體組合
◆可以測(cè)量平面、曲面上的鍍層
◆可以測(cè)量小零件、導(dǎo)線、線狀零件
◆用戶可另設(shè)置1種金屬的測(cè)量參數(shù)
◆預(yù)置9種金屬的測(cè)量參數(shù)：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。
德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司庫侖鍍層測(cè)厚儀GalvanoTest 2000，應(yīng)用庫侖電量分析原理。其過程類似于電鍍，但電化學(xué)反應(yīng)的方向相反，是電解除鍍?？梢杂糜跍y(cè)量幾乎所有基體上的電鍍層厚度?；w包括鋼鐵、有色金屬以及絕緣材料。例如鐵上鑷、鐵上鋅、銅上銀、環(huán)氧樹脂上的銅等。測(cè)量時(shí)只需去除幾乎看不到的一小塊面積的鍍層金屬，而基體不受影響。
測(cè)量電池電壓曲線
特性測(cè)量電池電壓曲線的打印圖形地表示在測(cè)量結(jié)束時(shí)其典型的電壓跳躍的測(cè)量過程。 電壓跳變終止測(cè)量，厚度自動(dòng)顯示為微米或密耳。 去鍍區(qū)域的尺寸去鍍區(qū)域的尺寸可以使用隨附的墊圈或面罩定界。 下圖顯示了使用D-mask（0,25平方毫米）時(shí)劃分的測(cè)量區(qū)域的實(shí)際脫鍍面積大小以及微觀視圖。
存儲(chǔ)功能
可存儲(chǔ)不同金屬測(cè)量參數(shù)的數(shù)目
可存儲(chǔ)2000個(gè)讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值
儀器斷電后可保持所有校準(zhǔn)值、讀數(shù)、統(tǒng)計(jì)值。
統(tǒng)計(jì)計(jì)算
顯示6種統(tǒng)計(jì)值：均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、變異系數(shù)、zui大、zui小值、讀數(shù)個(gè)數(shù)
立即或稍后顯示統(tǒng)計(jì)值
顯示、打印年、月、日、時(shí)、分
用于外設(shè)的計(jì)算機(jī)接口：
MINIPRINT 微型打印機(jī)接口
RS-232，PC計(jì)算機(jī)接口
連接x-t計(jì)錄儀模擬電壓輸出接口
測(cè)量范圍：zui大測(cè)量范圍：0.05-75μm
更多產(chǎn)品信息>>>>>>
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