清和光學(xué)制作所M.Plan APO1.5XHR物鏡SEIWA OPTICA
物鏡，M.Plan APO1.5XHR，M.Plan APO2.5XHR，M.Plan APO5XHR，M.Plan APO10XHR，M.Plan APO1.5XHR，M.Plan APO2.5XHR，M.Plan APO5XS，M.Plan APO10XS，M.Plan APO20XS，M.Plan APO50XSBS
清和光學(xué)制作所M.Plan APO1.5XHR物鏡SEIWA OPTICAL
清和光學(xué)制作所M.Plan APO1.5XHR物鏡SEIWA OPTICAL
物鏡，M.Plan APO1.5XHR，M.Plan APO2.5XHR，M.Plan APO5XHR，M.Plan APO10XHR，M.Plan APO1.5XHR，M.Plan APO2.5XHR，M.Plan APO5XS，M.Plan APO10XS，M.Plan APO20XS，M.Plan APO50XSBS，M.Plan APO100XSBS，近紅外物鏡PE IR Plan 1X，PE IR Plan 2.5X，PE IR Plan 10X，PE IR Plan 20X，PE IR Plan 50X，PE IR Plan 100X，PE IR 10X 2000 HRS，PE IR 20X 2000 HRS，PE IR 50X 2000 HRS，NUV Plan APO 20X，NUV Plan APO 50X，DUV Plan 20X，DUV Plan 50X，邁克爾遜干涉物鏡MIF-2.5X-FD10.2，MIF-5X-WD26，MIF-5X-ULWD
產(chǎn)品介紹
兼容寬視場(chǎng)（φ33mm）的M.PlanAPO物鏡系列
M.PlanAPO※※xHR系列 這是M.PlanAPO物鏡系列，支持超寬視場(chǎng)（φ33mm），兼容
像素分辨率越來越高的相機(jī)。請(qǐng) 成像管MS-配合使用200-TCD33。
M.PlanAPO物鏡系列
近紅外物鏡1100nm-1600nm
PE IR平場(chǎng)物鏡系列
用于光發(fā)射的近紅外物鏡
長(zhǎng)工作距離、高分辨率物鏡，在近紅外區(qū)域具有高光譜透過率。
它可用于透過硅觀察晶圓的背面或作為光電發(fā)射故障分析的透鏡。
20X 和 50X 可以連接到我們的顯微鏡 PS-888L 上，并與 YAG 激光器（波長(zhǎng) 1064nm）配合使用
進(jìn)行激光修復(fù)。
近紅外物鏡2000nm
PEIR2000HR 10X/20X/50X
近紅外 2000nm 兼容物鏡
PEIR10X-2000HR 2023 年 10 月新發(fā)布
物鏡在 2000nm 處保持 75% 或更高的透過率。
在半導(dǎo)體器件故障分析中，可有效檢測(cè)由于電流泄漏而導(dǎo)致的極弱發(fā)光。
使用從芯片背面穿過硅的紅外光可以觀察高度集成的多層半導(dǎo)體器件。
*可進(jìn)行硅校正。請(qǐng)聯(lián)系我們。
近紫外物鏡 355nm
NUV Plan APO20X/50X
近紫外物鏡
用于明場(chǎng)觀察的長(zhǎng)工作距離物鏡。
該物鏡經(jīng)過校正，可聚焦在可見光范圍和近紫外 355nm 中使用的波長(zhǎng)。
它被設(shè)計(jì)為在近紫外區(qū)域具有高光譜透射率，當(dāng)連接到顯微鏡并與 355nm YAG 激光器配合使用時(shí)，它非常適合半導(dǎo)體電路和 LCD 修復(fù)等薄膜加工。
紫外物鏡266nm
DUV Plan 20X/50X
近紫外物鏡
用于明場(chǎng)觀察的長(zhǎng)工作距離物鏡。
該物鏡經(jīng)過校正，可聚焦在可見光范圍和近紫外 266nm 中使用的波長(zhǎng)。
它被設(shè)計(jì)為在近紫外區(qū)域具有高光譜透射率，當(dāng)連接到顯微鏡并與266nm YAG激光器配合使用時(shí)，
它非常適合半導(dǎo)體電路和LCD修復(fù)等薄膜加工。
邁克爾遜干涉物鏡
MIF 系列
邁克爾遜白色干涉物鏡
這是一款與白色干涉儀配合使用的物鏡。
內(nèi)置分束器和參考鏡與聚焦位置的樣品圖像一起
提供與樣品高度差相對(duì)應(yīng)的干涉條紋。
