- 麥科信 SigOFIT 光隔離探頭產(chǎn)品參數(shù)表
- 麥科信 SigOFIT 光隔離探頭特點
產(chǎn)品參數(shù)表
型號 | OIP100 | OIP200 | OIP350 | OIP500 | OIP800 | OIP1000 |
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MOIP100 | MOIP200 | MOIP350 | MOIP500 | MOIP800 | MOIP1000 | |
帶寬 | 100MHz | 200MHz | 350MHz | 500MHz | 800MHz | 1GHz |
上升時間 | ≤3.5ns | ≤1.75ns | ≤1ns | ≤700ps | ≤438ps | ≤350ps |
共模抑制比 | DC: 180dB 100MHz: 128dB | DC: 180dB 200MHz: 122dB | DC: 180dB 350MHz: 118dB | DC: 180dB 500MHz: 114dB | DC: 180dB 800MHz: 110dB | DC: 180dB 1GHz: 108dB |
差模電壓 | ±6250V | ±5000V | ||||
底噪 | <0.45mVrms | <0.45mVrms | ||||
直流增益精度 | 1% | |||||
共模電壓 | 85kVpk |
*注:MOIP系列為Mic-OPI™專業(yè)接口,無需額外插適配器供電;OIP系列為BNC通用接口。
特點
基于SigOFIT™ 技術的光隔離探頭,擁有很高的共模抑制比和隔離電壓,在其帶寬范圍內(nèi)洞見信號的全部真相,是判定其他電壓探頭所測信號真實性的裁判。此外,SigOFIT光隔離探頭采用的激光供電技術,解決了隔離供電的問題。
真實的信號呈現(xiàn)
SigOFIT光隔離探頭具有很高的共模抑制比,在100MHz時CMRR高達128dB、在1GHz時CMRR仍然高達108dB,是判定其他電壓探頭所測信號真實性的裁判。
很高的測試精度與穩(wěn)定性
作為判定其他電壓探頭所測信號真實性的裁判,測試精度是SigOFIT光隔離探頭的重要指標。SigOFIT光隔離探頭,具有很佳的幅頻特性,直流增益精度優(yōu)于1%,底噪小于0.45mVrms,預熱5min后零點漂移小于0.1%,增益漂移小于1%。
第三代半導體的較佳測試手段
第三代半導體器件由于導通與關斷時間很短,信號具有更快的上升沿和下降沿,信號中具有很高能量的高頻諧波,SigOFIT光隔離探頭在帶寬時,仍然具有超100dB的共模抑制比,可以近乎地抑制高頻共模噪聲所產(chǎn)生的震蕩,所呈現(xiàn)的信號沒有額外多余成分,是第三代半導體測試的。
測試氮化鎵(GaN)不炸管
SigOFIT光隔離探頭測試引線短且采用同軸傳輸,探頭輸入電容最小僅1pF,測試氮化鎵(GaN)十分安全。
使用靈活,高效便捷
SigOFIT光隔離探頭比傳統(tǒng)高壓差分探頭體積更小,探頭引線更精巧,使用更加靈活方便;探頭響應快,上電即測,校準時間小于1秒,可實時保證精確的信號輸出。
測試量程更寬
不同于高壓差分探頭只可以測試高壓信號,SigOFIT光隔離探頭通過匹配不同的衰減器,可以測試±0.01V至±6250V的差模信號,并實現(xiàn)滿量程輸出,達到很高的信噪比。
專業(yè)接口
MOIP系列為Mic-OPI™專業(yè)接口,無需額外插適配器供電;
OIP系列為BNC通用接口,可連接所有示波器。
應用場景
對其他電壓探頭所測結果準確性、真實性存在質疑時,SigOFIT光隔離探頭可作為最終裁判依據(jù)。
電源設備評估、電流并聯(lián)測量、EMI 和 ESD 故障排除
電機驅動設計、功率轉換器設計 、電子鎮(zhèn)流器設計
氮化鎵、碳化硅、IGBT半/全橋設備的設計與分析
高壓高帶寬測試應用的安全隔離測試
逆變器、UPS及開關電源的測試
寬電壓、寬帶測試應用
各種浮地測試