SoC測試系統(tǒng)

T2000靈活的測試平臺，滿足不同的測試需求

在當今時代，SoC器件需要小批量、高混合的制造方法。半導(dǎo)體制造商需要在2-3年的周期內(nèi)更換他們的測試人員。

T2000平臺采用模塊式架構(gòu)，可根據(jù)應(yīng)用需要，對必要的功能模塊進行靈活的重新配置。豐富多樣的功能模塊，包括數(shù)字、高性能模擬、功率混合信號和圖像捕獲，提供廣泛的測試覆蓋，并以的成本提供解決方案。這使得具有可擴展的系統(tǒng)配置成為可能，從9槽的風(fēng)冷系統(tǒng)到52槽和多達8192通道的液冷系統(tǒng)。

Advantest提供緊湊的解決方案，減少開發(fā)和小批量生產(chǎn)的初始投資，并為大規(guī)模生產(chǎn)提供高效的多dut并行測量解決方案。T2000以最小的資本投入快速響應(yīng)市場需求。

當芯片制造商增強半導(dǎo)體設(shè)備的功能和增加多功能時，他們需要減少開發(fā)時間。Advantest的T2000是測試這些設(shè)備的理想選擇。

市場縮減時間-多時段

T2000使以最小的投資高效地開發(fā)設(shè)備測試程序成為可能。使用T2000的多站點CPU架構(gòu)，多個用戶可以同時登錄到單個測試系統(tǒng)，并獨立執(zhí)行調(diào)試工作。多達8人同時工作，有助于節(jié)省工程成本和降低TTM。此外，8個人可以同時為同一臺設(shè)備開發(fā)不同的功能，大大縮短了開發(fā)時間。

并行測試效率-多站點控制器

隨著同時測量更多的dut(被測設(shè)備)，開銷往往會增加，測試時間通常會更長。然而，T2000通過高效的多站點測試技術(shù)減少了測試時間，實現(xiàn)了高吞吐量，消除了開銷。

減少測試時間-并行測試

T2000支持并發(fā)測試功能，可以在更短的時間內(nèi)執(zhí)行復(fù)雜的設(shè)備測試。并發(fā)測試比過去更容易實現(xiàn)，因為T2000可以在多個測試項的順序執(zhí)行和并行執(zhí)行之間無縫切換。此外，它的并發(fā)測試功能使用戶能夠在較短的測試時間內(nèi)快速開發(fā)測試程序。

降低測試成本

T2000擁有多達8192個數(shù)字通道，并行度是之前型號的兩倍多，降低了測試成本。

T2000產(chǎn)品線

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