高精密超聲波測(cè)厚儀
采用超聲波測(cè)量原理,利用單晶延遲探頭,從被測(cè)工件的一側(cè)向材料內(nèi)發(fā)射聲波,對(duì)其厚度進(jìn)行實(shí)時(shí)的數(shù)字化測(cè)量,而無(wú)需切開(kāi)被測(cè)工件,是一種超小型測(cè)量?jī)x器。它能快速,無(wú)損傷,精確地進(jìn)行測(cè)量。本儀器利用多次回波提高精度,使分辨率可達(dá)0.001mm,測(cè)量下限低至0.2mm。并且提供A、B掃描功能,通過(guò)回波顯示可以幫助使用者更好的控制測(cè)量,使測(cè)厚范圍更廣,測(cè)量數(shù)值更精確,也可避免在測(cè)量中與材料相關(guān)的誤差。
本儀器可廣泛應(yīng)用于金屬材料厚度的測(cè)量。針對(duì)薄件測(cè)量和高精度測(cè)量,更見(jiàn)其*性。此外,本儀器還可穿透較薄的涂層,漆層,可用于滅火器等帶有漆層的超薄壁的測(cè)量。