· XRD-7000系列配備了樣品水平型測(cè)角儀,能夠測(cè)定超大型樣品。
· 不但可進(jìn)行定性/定量等基本分析,還可以應(yīng)用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、晶格常數(shù)的精密化、結(jié)晶度的計(jì)算、晶體粒徑和晶格應(yīng)力的計(jì)算、晶系確定、Rietveid結(jié)構(gòu)解析軟件進(jìn)行的晶體結(jié)構(gòu)解析。通過追加附件,還可以應(yīng)用于應(yīng)力測(cè)定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測(cè)定等。
· 利用新開發(fā)的大型R-θ樣品臺(tái),可以進(jìn)行350mmφ樣品全表面的自動(dòng)應(yīng)力成圖測(cè)定。
· 采用強(qiáng)大的多毛細(xì)管平行光束系統(tǒng),可對(duì)應(yīng)凹凸不同的樣品的分析,擴(kuò)大應(yīng)用范圍。