概述：
深圳市方源儀器有限公司—英國牛津儀器中國總代理商! MAXXI 5 是鍍層測厚和材料分析的通用儀器，能提供目前的性價比。他們是既能滿足功能性，又能滿足的檢測精度的理想工具。
產(chǎn)品簡介：
MAXXI 5 鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術(shù)，該技術(shù)已經(jīng)被證實(shí)并且得到廣泛應(yīng)用，可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的Ti22到U92。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
- 操作簡單
- 無損檢測只需幾秒鐘
- 為質(zhì)量保證和過程控制提供單層或多層分析
- 用于優(yōu)化電鍍液控制的金屬離子含量分析
- 以X射線熒光技術(shù)進(jìn)行無損分析
- 市場上性價比
- 自動化批量檢測：XYZ
- 應(yīng)用行業(yè)：電子，珠寶，金屬加工
產(chǎn)品詳細(xì)技術(shù)參數(shù)：
產(chǎn)品參數(shù)1：
測定元素范圍：Ti(22) – U(92)
鍍層和成份分析：鍍層：最多同時測定5層(4層鍍層+基體材料)
成份：最多同時測定20種元素
X射線激發(fā)：50kV、1.2mA (60W)高壓發(fā)生器；微聚焦W靶X射線管
探測器：封氣正比計(jì)數(shù)器
準(zhǔn)直器：單準(zhǔn)直器任選：φ0.2mm、φ0.3mm、φ0.5mm、0.1mm x 0.3mm
多準(zhǔn)直器程控交換：
* 0.06mm x 0.06mm、0.05mm x 0.15mm、0.1mm x 0.2mm、φ0.2mm
* 0.06mm x 0.06mm、0.05mm x 0.05mm、φ0.1mm、φ0.2mm
數(shù)字脈沖處理器：2048通道、數(shù)字式多道分析器
數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)：Intel Pentium G2030、2G RAM、500G硬盤(配置相當(dāng)或者更高)，19英寸TFT彩顯；Windows 7 32bit操作系統(tǒng)
相機(jī)：彩色視頻系統(tǒng)；20倍放大倍數(shù)；被測樣品圖像實(shí)時顯示功能，圖像十字線，顯示標(biāo)尺和X射線束尺寸
電源要求 ：110V、230V，60Hz/50Hz
工作環(huán)境要求：10℃ － 40℃ 室溫，98％相當(dāng)濕度(無冷凝水)；推薦在空調(diào)環(huán)境中使用
主機(jī)重量 ：90公斤(不包含計(jì)算機(jī)和顯示器等重量)
樣品臺規(guī)格：X-Y手動樣品臺：600mm x 600mm平臺；承重25公斤；175mm或者350mm樣品高度可調(diào)。
X-Y程控樣品臺：X-Y臺面尺寸300mm x 250mm；承重5公斤；程控距離X軸300mm、Y軸250mm。
程控Z軸移動距離：180mm；可使用鼠標(biāo)或者Joystick控制。
樣品尺寸：X-Y手動樣品臺：600mm(W) x 500mm(D) x 350mm(H)
X-Y程控樣品臺：600mm(W) x 500mm(D) x 180mm(H)
儀器外形尺寸：700mm(W) x 770mm(D) x 700mm(H)
產(chǎn)品參數(shù)2:
高壓發(fā)生器: 50kV, 電流 1.2mA, 程序控制升壓
X射線管：微聚焦射線管, W靶, 85微米 x 85微米焦斑，玻璃窗.
X射線功率：根據(jù)應(yīng)用優(yōu)化,50VA
(可選項(xiàng)) ：微聚焦射線管, 85微米 x 85微米焦斑, 鈹窗.
單準(zhǔn)直器：直徑0.1毫米 或 直徑0.3毫米或0.1x0.3毫米
準(zhǔn)直器交換器：4個位置, 自動可編程控制.
(可選項(xiàng))：從60x60微米到直徑300微米, 或客戶.
樣品臺(可選項(xiàng))：a)自動程控臺面X軸300毫米, Y軸250毫米, Z軸180毫米, 易裝載，載荷5千克.
b)自動程控臺面X軸300毫米, Y軸250毫米, Z軸180毫米,載荷20千克.
樣品定位：游戲桿定位, 任意方向移動, 激光輔助定位,自動聚焦.
影象系統(tǒng)：彩色影像系統(tǒng), 視野范圍 2x1.5 毫米 和 4x3毫米
圖象放大倍數(shù)：放大40倍和80倍.
輻射安全性能：通過德國聯(lián)邦物理技術(shù)研究院測試,全面安全系統(tǒng)
腔室：高67厘米, 寬60厘米, 深75厘米. 腔體開槽設(shè)計(jì).
樣品腔室：可用部分, 高35厘米, 寬60厘米, 深50厘米.
供電電源：110伏/230伏 60赫茲/50赫茲
X-MasteR 軟件：使用現(xiàn)代計(jì)算機(jī)技術(shù)在WINDOWS下操作軟件.
u-MasteR 軟件：用于鍍層厚度測量的評價模塊.
Fun-MasteR 軟件：使用基本參數(shù)法的校正模塊.
Element-MasteR 軟件：用于20種以上元素的無標(biāo)樣定性和定量分析.
%-MasteR 軟件：8種以上元素的精確定量材料分析和統(tǒng)計(jì)計(jì)算.
Liquid-MasteR 軟件：電鍍液分析.
Data-MasteR：利于文件長期歸檔的數(shù)據(jù)庫和統(tǒng)計(jì)處理軟件
Report-MasteR 軟件：用于客戶建立個性化報告的軟件模塊.
中國代理商：深圳市方源儀器有限公司
地址：深圳市南山區(qū)登良路62號南園綜合樓5樓 地址：上海市閔行區(qū)申濱路1051弄140號1101室
電話： 電話：
： : fyyq@ ： : fyyq@
相關(guān)產(chǎn)品
-
CMI155金屬基體上涂鍍層測厚儀 - CMI157手持式金屬涂鍍層測厚儀
- 涂鍍層測厚儀
- 進(jìn)口MPO涂鍍層測厚儀
- 專用MPO涂鍍層測厚儀
- 涂鍍層測厚儀優(yōu)勢
- L200薄膜測厚儀
- CMI830電解測厚儀
- CMI900 X射線熒光測厚儀
- CMI760 PCB專用銅厚測試儀
- CMI730 臺式涂鍍層測厚儀
- CMI511 便攜式孔銅測厚儀
- CMI250 便攜式涂鍍層測厚儀
- CM95 便攜式銅箔測厚儀
- 涂層測厚儀
- 涂鍍層測厚儀
- 膜厚儀
- 超聲波測厚儀
- L170涂鍍層測厚儀
- 漆膜測厚儀L180
- 美國LEE測厚儀
- L200兩用型測厚儀
- L200薄膜測厚儀
- CMI810電解測厚儀
- CMI820電解測厚儀
- CMI808電解測厚儀
- 鍍層測厚儀
- 鍍層測厚儀
- 鍍層測厚儀
- CMI243 便攜式金屬鍍層測厚儀
- 涂層測厚儀
- 涂層測厚儀
- 涂層測厚儀
- CMI涂層測厚儀
- CMI涂層測厚儀
- CMI涂層測厚儀
- CMI153 便攜式涂鍍層測厚儀
- CMI測厚儀
- CMI233 便攜式涂層測厚儀
- 英國牛津兩用涂層測厚儀CMI153
- CMI153牛津涂層測厚儀
- 涂鍍層測厚儀
- L200薄膜測厚儀
