面銅測(cè)厚儀CMI165：手持式面銅測(cè)厚儀，美國(guó)工廠生產(chǎn)，采用微電阻原理測(cè)量覆銅板、高低溫銅箔、PCB銅箔、蝕刻或整平后的銅箔、電鍍銅后的面銅厚度。
面銅測(cè)厚儀CMI165是世界帶溫度補(bǔ)償功能的面銅測(cè)厚儀，手持式設(shè)計(jì)符合人體工學(xué)原理。一直以來，面銅測(cè)厚的結(jié)果往往受到樣品溫度的影響。CMI165溫度補(bǔ)償功能解決了這個(gè)問題，確保測(cè)量結(jié)果精度而不受銅箔溫度的影響。這款多用途的手持式測(cè)厚儀配有探頭防護(hù)罩，確保探頭的耐用性
面銅測(cè)厚儀CMI165適用于：PCB鉆孔、剪裁、電鍍等工序前進(jìn)行相關(guān)銅箔來料檢驗(yàn)。
面銅測(cè)厚儀CMI165的配置：
CMI165主機(jī)、SRP-T1探頭、NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片。
對(duì)于金屬鍍層測(cè)厚的完整解決方案、相關(guān)配件及耗材現(xiàn)都可在上快速獲取范圍的優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品與技術(shù)支持
CMI165銅箔測(cè)厚儀 CMI165銅箔測(cè)厚儀廠家 CMI165便攜式銅箔測(cè)厚儀,CMI165銅箔測(cè)厚儀 CMI165便攜式銅箔測(cè)厚儀特點(diǎn)
深圳方源儀器-英國(guó)牛津儀器中國(guó)代理商
售后服務(wù)：儀器享有自購(gòu)買之日計(jì)起為期一年的質(zhì)量保證期
電話： 電話：
牛津儀器銅箔測(cè)厚儀CMI95M，牛津儀器PCB銅箔測(cè)厚儀CMI95M，牛津儀器線路板銅厚測(cè)量?jī)xCMI95M，牛津儀器線路板銅箔測(cè)厚儀CMI95M，牛津儀器面銅測(cè)厚儀CMI165，牛津儀器表面銅厚測(cè)量?jī)xCMI165，牛津儀器手持式面銅測(cè)厚儀CMI165，牛津儀器牛津面銅測(cè)厚儀CMI165，牛津儀器表面銅厚測(cè)量?jī)xCMI563，牛津儀器手持式面銅測(cè)厚儀CMI563，牛津儀器英國(guó)牛津面銅測(cè)厚儀CMI563
技術(shù)參數(shù)：
面銅測(cè)厚儀CMI165的特點(diǎn)：
●耗損的SRP-T1探頭可自行更換，
●儀器具有照明功能方便測(cè)量時(shí)定位，
●SRP-T1探頭具有透明保護(hù)罩防止探針損壞和測(cè)量時(shí)定位，
●儀器具有溫度補(bǔ)償功能，測(cè)量結(jié)果不受溫度影響；即使剛從電鍍槽中取出的PCB也可即時(shí)測(cè)量，
●儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn)，現(xiàn)場(chǎng)無需校正，
●使用普通AA電池供電，一定時(shí)間不操作自動(dòng)關(guān)閉儀器，
●測(cè)試數(shù)據(jù)通過USB2.0和特定軟件實(shí)現(xiàn)高速傳輸至電腦，可保存為Excel文件（選配功能）。
面銅測(cè)厚儀CMI165的工作原理：
應(yīng)用*的微電阻測(cè)試技術(shù)，符合EN14571測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。SRP-T1探頭由四支探針組成，AB為正極CD為負(fù)極；測(cè)量時(shí)，電流由正極到負(fù)極會(huì)有微小的電阻，通過電阻值和厚度值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠得出表面銅厚，不受絕緣板層和線路板背面銅層影響。
牛津儀器測(cè)厚儀器部（OICM）作為牛津儀器分析儀器部的一個(gè)組成部分，提供范圍內(nèi)的支持和服務(wù)網(wǎng)絡(luò)。和我們的所有產(chǎn)品一樣，CM95在售前和售后都能夠得到我們優(yōu)質(zhì)服務(wù)的保證。
相關(guān)產(chǎn)品
-
CMI155金屬基體上涂鍍層測(cè)厚儀 - CMI157手持式金屬涂鍍層測(cè)厚儀
- 涂鍍層測(cè)厚儀
- 進(jìn)口MPO涂鍍層測(cè)厚儀
- 專用MPO涂鍍層測(cè)厚儀
- 涂鍍層測(cè)厚儀優(yōu)勢(shì)
- L200薄膜測(cè)厚儀
- CMI830電解測(cè)厚儀
- CMI900 X射線熒光測(cè)厚儀
- CMI760 PCB專用銅厚測(cè)試儀
- CMI730 臺(tái)式涂鍍層測(cè)厚儀
- CMI511 便攜式孔銅測(cè)厚儀
- CMI250 便攜式涂鍍層測(cè)厚儀
- CM95 便攜式銅箔測(cè)厚儀
- 涂層測(cè)厚儀
- 涂鍍層測(cè)厚儀
- 膜厚儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- L170涂鍍層測(cè)厚儀
- 漆膜測(cè)厚儀L180
- 美國(guó)LEE測(cè)厚儀
- L200兩用型測(cè)厚儀
- L200薄膜測(cè)厚儀
- CMI810電解測(cè)厚儀
- CMI820電解測(cè)厚儀
- CMI808電解測(cè)厚儀
- 鍍層測(cè)厚儀
- 鍍層測(cè)厚儀
- 鍍層測(cè)厚儀
- CMI243 便攜式金屬鍍層測(cè)厚儀
- 涂層測(cè)厚儀
- 涂層測(cè)厚儀
- 涂層測(cè)厚儀
- CMI涂層測(cè)厚儀
- CMI涂層測(cè)厚儀
- CMI涂層測(cè)厚儀
- CMI153 便攜式涂鍍層測(cè)厚儀
- CMI測(cè)厚儀
- CMI233 便攜式涂層測(cè)厚儀
- 英國(guó)牛津兩用涂層測(cè)厚儀CMI153
- CMI153牛津涂層測(cè)厚儀
- 涂鍍層測(cè)厚儀
- L200薄膜測(cè)厚儀
