X 射線衍射儀主要應(yīng)用于粉末、塊狀或薄膜樣品的物相定性、定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料結(jié)構(gòu)分析、晶體的取向性分析、宏觀應(yīng)力或微觀應(yīng)力的測(cè)定、晶粒大小測(cè)定、結(jié)晶度測(cè)定等。
產(chǎn)品特點(diǎn):
整機(jī)采用可編程序控制器 PLC 控制技術(shù);操作方便,一鍵式采集系統(tǒng);模塊化設(shè)計(jì),配件即插即用,無(wú)需校準(zhǔn);觸摸屏實(shí)時(shí)在線監(jiān)測(cè),顯示儀器狀態(tài);高功率 X 射線發(fā)生器,性能穩(wěn)定可靠;電子鉛門聯(lián)鎖裝置,雙重防護(hù),確保使用者安全。
技術(shù)參數(shù):
掃描范圍:-110~161°;
掃描方式:透射、步進(jìn)、連續(xù)、OMG;
最小步進(jìn)角度:0.0001°;
2θ角重復(fù)精度:0.0001°;
全譜圖 2θ 角線性精度:≤±0.01°。