主要技術(shù)指標(biāo)
測試信號電平
- 較低和可選的測試信號電流:1uA至10 mA
測量范圍 / 時間
- 寬測量范圍: 10u ohm 至 100 k ohm
- 快速測量:34 ms
頻率
- 1 kHz 交流測量
更多特性
- 10u ohm分辨率
- 接觸檢測功能
- 內(nèi)置比較儀
- 自動測量模式
HP 4338B毫歐表是一臺精密、可靠、高速的測量儀器,用于低阻測量。
精密低阻測量
在低電流電路中,機(jī)電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問題。HP 4338B提供可選擇的低交流測試信號(1μA~10mA)。用戶目前可在低電流的條件下來表征機(jī)電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來確定繼電器、開關(guān)、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測試中的微小差別。1kHz測試信號消除了由熱電對被測元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測試信號是檢查電池內(nèi)阻的*好方法,因為它避免了直流能量的消耗。
高速測量
高速(34ms)內(nèi)設(shè)比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動處理器和外部計算機(jī)構(gòu)成一個測量系統(tǒng),使生產(chǎn)測試時間縮短到*低限度。
自動測量方式
在進(jìn)行大量連續(xù)的測試、而測試信號電平又不是很主要的因素時,自動測量功能會使儀器選擇合適的測試信號并設(shè)定測量范圍。
技術(shù)指標(biāo)
(**的技術(shù)指標(biāo)請參閱技術(shù)資料)
測量參數(shù):R(交流電阻),X(電抗),L(電感),|Z|(阻抗),θ(相位[°])
組合參數(shù):R,R-X,R-L,|Z|-θ(只適用于串聯(lián)模式)
數(shù)學(xué)功能:偏差和相對偏差(以百分比表示)
顯示數(shù)字:3.4或5位(可選擇)
測試信號特性
測試頻率:1kHz
頻率精度:±0.1%
測試信號電平:1μA,10μA,100μA,1mA,10mArms
電平精度:±(10%+0.2μA)
樣品兩端的*大電壓:在任何情況下*大為20mV峰值
測量范圍
參數(shù) 測量范圍
R 10μΩ~100kΩ
X,|Z| 10μΩ~100kΩ (典型值)
L 10nH~10H(典型值)
θ -180°~+180°(典型值)
測量精度:R的基本精度為±0.4%
測量時間:從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結(jié)束測量(EOM)信號輸出的時間間隔
模式 時間(典型值)
短 34ms
中等 70ms
長 900ms
修正功能
短路誤差為0:消除由測試夾具中雜散寄生阻抗引的測量誤差
比較功能
對每個一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)設(shè)立高/符合/低界限
接觸檢查功能
可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障
其它功能
疊加直流:在測量端可能給出±42Vdc(*大值)
存儲/調(diào)用:可以由內(nèi)部非易失存儲器對10種儀器設(shè)置進(jìn)行存儲/調(diào) 用
連續(xù)存儲功能:若儀器被切斷或發(fā)生電源故障,儀器設(shè)置將自動被存 儲起來(在23±5℃時≤72小時)
HP-IB接口:所有控制設(shè)置、被測值和比較器信息
處理器接口:所有輸出信號為負(fù)邏輯,光隔離開路集電極
輸出信號包括:高/符合/低、變址,測量結(jié)束和告警。輸入信號是健鎖定和外觸發(fā)
一般指標(biāo)
電源要求:198~264V,47~66Hz,45VAmax
工作溫度:0°~45℃
尺寸:320mm(寬)×100mm(高)×300mm(長)
重量:4.5kg