技術(shù)參數(shù):
波長范圍:800nm-1100nm
透射比范圍:0%τ-120 %τ
光譜帶寬:2nm(在871.6nm處)
數(shù)據(jù)分辨率:0.3nm
探測(cè)器:1024元/2048元陣列電荷耦合器件(CCD)/光電二極管陣列(PDA)
主要技術(shù)指標(biāo)
波長準(zhǔn)確度:±1.0nm
波長重復(fù)性:≤0.1nm
雜散光:≤0.2%τ(830nm處)
透射比準(zhǔn)確度:±1%τ
透射比重復(fù)性:≤0.5%τ
信噪比:0%τ處≤0.1% τ,99%τ處≤0.5%τ(900nm處)
采樣速度:大約0.3ms/scan
外設(shè):通用計(jì)算機(jī)
探測(cè)器 :1024元 電荷耦合器件(CCD)/光電二極管陣列(PDA)
系統(tǒng)軟件
NIR-800近紅外光譜儀完成基本采集功能的數(shù)據(jù)采集軟件
配套分析軟件(可供用戶在現(xiàn)有化學(xué)計(jì)量學(xué)軟件基礎(chǔ)上進(jìn)行二次開發(fā))
主要特點(diǎn):
NIR-800近紅外光譜儀采用通用計(jì)算機(jī)進(jìn)行控制,配備中文操作軟件,操作簡便,功能完善。單色器的光學(xué)系統(tǒng)采用交叉C-T結(jié)構(gòu)(Crossed Czerny-Turner結(jié)構(gòu)), 具有慧差小,象散低, 雜散光少等優(yōu)點(diǎn),產(chǎn)品本身設(shè)計(jì)新穎,性能*,采用CCD或PDA陣列探測(cè)器,能夠測(cè)量被測(cè)物質(zhì)吸收光譜、透過率光譜,完成多種基本測(cè)試功能。
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