■儀器原理
能量色散X熒光光譜儀是利用熒光X射線具有不同能量的特點,將來自試樣的熒光X射線依次檢測,得到一系列幅度與光子能量成正比的脈沖,經(jīng)放大器放大后送到多道脈沖分析器。按脈沖幅度的大小分別統(tǒng)計脈沖數(shù),脈沖幅度可以用X光子的能量標度,從而得到計數(shù)率隨光子能量變化的分布曲線,即X光能譜圖。
■產(chǎn)品特點
1.采用美*原裝電致冷高性能Si-PIN探測器,分辨率高,探測范圍寬,涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規(guī)材料分析的基本要求。
2. 配置*的DPP數(shù)字多道信號集成處理器,比普通模擬多道信號處理器性能更佳,尤其在高計數(shù)率時有較好的分辨力(如Hg和Cl等),高達80MHz的數(shù)據(jù)傳輸速度使分析時間更短,測量重復性和長期穩(wěn)定性較好。
3. 內(nèi)置高清攝像系統(tǒng),清晰觀察樣品,準確定位樣品測試區(qū)域。
4. 配套新的FP測量軟件,集成多種譜圖處理算法和基體校正算法,降低儀器測量中的各種干擾譜峰,使低含量和痕量元素的檢測結果