ESG-1電子散斑干涉儀
(可根據(jù)用戶要求定制)
電子散斑干涉儀,英文全稱Electronic Speckle Pattern Interferometer,簡稱ESPI,它是計算機技術(shù)、圖象處理技術(shù)、激光、散斑及全息干涉等相結(jié)合的一種*技術(shù)。它有著廣泛的應用前景。
基本原理是:當相干性很好的激光照射在被測物的表面,在表面前方的空間形成隨機分布的明暗點—散斑點,散斑隨物體表面的變形(或移動)而運動,計錄物體變形前后兩個錯動了的散斑圖,并比較變形前后散斑圖的變化,可以高精度地檢測物體表面各點位移。
用CCD首先取得加載前的*幅圖像,然后加載并取得第二幅圖像,利用圖像卡AD轉(zhuǎn)化成數(shù)據(jù)(數(shù)值化)輸入計算機,通過程序使得兩幅圖像相減,zui后可以直接在電腦屏幕上觀察到與變形相關(guān)的干涉條紋。
本儀器可以實現(xiàn)純粹的w、u及剪切(ESSPI)的圖像采集及處理,采用時間相移技術(shù),從而使結(jié)果可以數(shù)字化輸出。
一、儀器配置及參數(shù)
成像*距離800mm,成像距離范圍300~1500mm,測量面積≥300mm2;
測量靈敏度:0.5λ~20λ;
氦氖激光器及調(diào)節(jié)支架:內(nèi)腔式,功率大于2.5mw, 波長633nm, 紅色氦氖激光;
二維電子散斑干涉儀本體:鋁合金陽極氧化發(fā)黑,外形尺寸(300*150*140mm3);
全反射鏡及其調(diào)節(jié)架:λ/4高能全反射鏡,反射率≧99%;
分光棱鏡及底座:20mm3,分光比1:1±5%;
磁性座:鑄鐵材質(zhì),吸力60kg;
帶有相移器的W場分光元件:橢圓半反半透鏡,分光比1:1±5%;
ZOOM成像鏡及固定裝置:f50定焦,相對孔徑1:1.8;
模擬CCD及電源:日本W(wǎng)atec902H,Watec-902H、靈敏度0.01流明、分辨率570線;
進口圖像采集卡及配套線纜:加拿大Cronasplus圖像采集卡;
進口相移驅(qū)動器:相移靈敏度: ∽20nm/V;
晶體錯位鏡:Wollaston棱鏡,剪切角度0.5度,帶有鋁合金外框及相移平移支架;
線偏振鏡:
定量加載系統(tǒng):拉壓彎三種載荷模擬及相應自由度調(diào)節(jié)機構(gòu),帶有力傳感器及數(shù)碼顯示;
力傳感器:量程1500N、精度±1N;
圖像采集、處理及計算軟件:結(jié)果可以圖像數(shù)字化輸出;
- 選配件
- 隔振臺:0.8m×1.6m;臺高800mm、主動式氣墊隔振、5Hz;
- 模擬加載系統(tǒng):周邊固定受中心載荷圓盤可繞中心旋轉(zhuǎn)試件;