石英晶體阻抗計(jì)GDS-80系列
一、產(chǎn)品簡介
石英晶體阻抗計(jì)晶振頻率測試儀GDS-80系列是高性價(jià)比的晶振測試系統(tǒng),采用網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù),實(shí)現(xiàn)智能化測量,符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)。測量頻率范圍10KHz-200KHz,1MHz-200MHz,附USB接口進(jìn)行數(shù)據(jù)通迅。
石英晶體阻抗計(jì)晶振頻率測試儀GDS-80系列采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實(shí)現(xiàn)串聯(lián)諧振頻率的測量,采用直接阻抗法來測試負(fù)載諧振頻率和負(fù)載電容,它測量精度高,速度快。具有串聯(lián)諧振頻率Fs、負(fù)載諧振頻率FL、串聯(lián)諧振電阻Rs、負(fù)載諧振電阻RL、負(fù)載電容CL、動(dòng)態(tài)電容C1、動(dòng)態(tài)電感L1、品質(zhì)因數(shù)Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數(shù)測量功能,負(fù)載電容在1-100P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置,從滿足不同負(fù)載電容的晶振測試,智能網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)運(yùn)算克服了市場上晶振測試設(shè)備使用實(shí)體電容法測試精度差,無法測試電參數(shù)的缺點(diǎn)、解除了手工校對的麻煩,讓晶振測試變得更輕松。
晶振頻率測試儀GDS-80依據(jù)標(biāo)準(zhǔn):
SJ/Z 9154.1-87/ IEC 444-1(1989)《用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件參數(shù)部分:用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法》;
SJ/Z 9154.2-87/ IEC 444-2(1980)《用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件參數(shù)第二部分測量石英晶體元件動(dòng)態(tài)電容的相位偏置法》;
GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶體元件參數(shù)的測量第11部分:采用自動(dòng)網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定負(fù)載諧振頻率和有效負(fù)載電容的標(biāo)準(zhǔn)方法》 ;
二、主要技術(shù)指標(biāo)
1. 中心頻率范圍: 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意設(shè)定
2. 掃描范圍:±1000ppm(默認(rèn)±400ppm)
3. 負(fù)載電容:1-100P 任意設(shè)定
4. 串聯(lián)諧振頻率Fs測量范圍:±1000ppm(默認(rèn)±400ppm) 測量精度:±5ppm
5. 串聯(lián)諧振電阻Fr:1MHz-100MHz:1Ω-1000Ω (2±10%*R Ω)
10KHz-200KHz:10K-300K (2±10%*R KΩ)
6. 負(fù)載電容CL測量范圍:1-200PF
7. 時(shí)基誤差:±1ppm
8. 負(fù)載諧振頻率FL測量精度:±5ppm+時(shí)基+0.5Pf*頻率牽引力Ts
9. 配件:插件式100歐π網(wǎng)絡(luò)測試座(標(biāo)配),貼片式100歐π網(wǎng)絡(luò)測試座(選配),插件式表晶測試座(選配),貼片式表晶測試座(選配),2520/3225/5032/7050貼片晶振適配套件(選配),通信軟件(僅GDS-80P/S)。