鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化,我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中,對(duì)鍍層厚度有了明確要求。
ScopeX PILOT臺(tái)式鍍層測(cè)厚儀采用下照式設(shè)計(jì),搭載*的Muti-FP算法軟件和微光聚集技術(shù),以及高敏變焦測(cè)距裝置,對(duì)不均勻、不規(guī)則,甚至微小件等形態(tài)的樣品,都能夠快速、精準(zhǔn)、無(wú)損檢測(cè),可輕松應(yīng)對(duì)鍍層領(lǐng)域的表面處理的過程控制、產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)中的檢測(cè)和篩檢難題,被廣泛應(yīng)用于珠寶首飾、電鍍行業(yè)、汽車行業(yè)、五金衛(wèi)浴、航空航天、電子半導(dǎo)體等多種領(lǐng)域。
使用優(yōu)勢(shì)
可選配微焦X射線裝置
測(cè)試各類極微小的樣品,即使檢測(cè)面積微小的樣品也可輕松、精準(zhǔn)檢測(cè)。
多準(zhǔn)直器/濾光片
多濾光片和多準(zhǔn)直器可選或軟件自動(dòng)切換組合,使得儀器的多功能性得以顯著提升,以靈活應(yīng)對(duì)不同尺寸的零件。
下照式設(shè)計(jì)
從下往上測(cè)量,無(wú)需額外對(duì)焦,可輕松實(shí)現(xiàn)對(duì)鍍層樣品的高效測(cè)量。
無(wú)損檢測(cè)
X射線熒光是無(wú)損分析過程,不留任何痕跡,即使是對(duì)敏感性材料,其測(cè)量也是非常安全的。
變焦裝置
可對(duì)各種異形凹槽樣品進(jìn)行檢測(cè),凹槽深度測(cè)量范圍可達(dá)0~30 mm。
高精度手調(diào)X-Y平臺(tái)
搭載高精度手調(diào)X-Y平臺(tái),精度可達(dá)25μm,使微區(qū)測(cè)量更便捷。
應(yīng)用場(chǎng)景
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汽車零部件 |
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