一、系統(tǒng)基本配置：

1、測(cè)試儀主機(jī)　　　　　　　　　　　 一臺(tái)
2、測(cè)試系統(tǒng)軟件光盤：　　　　　　　一張
3、隨機(jī)配備附件（出廠標(biāo)準(zhǔn)配置）：　一套

二、環(huán)境要求：

三、主要技術(shù)指標(biāo)：

1、計(jì)算機(jī)操作系統(tǒng)： 支持WIN98/WIN/2000/WINXP/Vista；

2、數(shù)字測(cè)試通道：80通道，支持驅(qū)動(dòng)閾值電平 +5V；

3、總線隔離數(shù)字通道：8通道，用來隔離掛在總線上的其它三態(tài)器件，避免由于總線競(jìng)爭(zhēng)干擾測(cè)試的準(zhǔn)確性；

4、后驅(qū)動(dòng)電流：≥200 mA；

5、測(cè)試速度：（1～45Ktv/S），4檔可選；

6、在線測(cè)試提取數(shù)字器件管腳狀態(tài): 11種;

7、數(shù)字器件功能施加測(cè)試時(shí)間： <26 mS；

8、數(shù)字器件的閾值電平； TTL（緊、松）、CMOS（緊、松）、自定義閾值電平；

9、 測(cè)試器件庫(kù):TTL54/74、CMOS40/45、8000、9000、驅(qū)動(dòng)器、接口器件、RAM、EPROM、模擬開關(guān)、電壓比較器、俄羅斯庫(kù)、西門子庫(kù)（國(guó)內(nèi)*）；

10、程控外供電源（自動(dòng)控制、自保護(hù)功能）： 5V/4A

11、電源加電延遲時(shí)間：（0.5～10）秒 7檔可選;

13、模擬測(cè)試通道： 80路；

14、測(cè)試探棒:2組

15、模擬信號(hào)掃描電壓幅度：±1V～±28V, 步距0.5V可調(diào);

16、VI分辨率：8～128點(diǎn)/周期用示波器可測(cè)；

17、輸出阻抗匹配：0.1KΩ / 1KΩ／10KΩ／100KΩ可選;

18、ASA模擬特征分析測(cè)試顯示坐標(biāo):3種可選VI /VT /VR;

19、模擬通道zui大測(cè)試頻率:16KHZ;

20、ASAVI測(cè)試頻率匹配:1HZ～16KHZ,共30檔可選;

21、ASA雙板比較測(cè)試。

四、 主要測(cè)試功能：

1、程控電源輸出功能： 提供+5V測(cè)試電源，程控加電，擁有自動(dòng)保護(hù)功能，安全可靠，不用外接測(cè)試電源，使用方便；

２.電源機(jī)電式繼電器輸出控制：采用安全可靠的機(jī)電式繼電器，與光電式比較，接觸電阻更小，約0.01～0.02Ω，其百萬次量級(jí)的使用壽命，幾百毫秒的動(dòng)作時(shí)間足以滿足實(shí)際應(yīng)用要求。

3數(shù)字邏輯器件在線功能測(cè)試： 測(cè)試器件庫(kù)龐大；測(cè)試范圍廣：TTL54/74、8000系列、9000系列、CMOS40/45、俄羅斯器件庫(kù)、西門子器件庫(kù)（國(guó)內(nèi)*）。

4．?dāng)?shù)字邏輯器件在線狀態(tài)測(cè)試： 采用學(xué)習(xí)、比較的測(cè)試方式，能夠提取11種復(fù)雜的電路在線狀態(tài)，如開路、邏輯翻轉(zhuǎn)信號(hào)、非法電平、總線競(jìng)爭(zhēng)等等狀態(tài)，所以，對(duì)測(cè)試器件外電路的識(shí)別能力強(qiáng)，低檔測(cè)試儀一般只能識(shí)別2-3種 。

5． 動(dòng)態(tài)總線競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離功能： 用于解除總線競(jìng)爭(zhēng)，保正測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件（如74LS373、74LS245、等）的準(zhǔn)確率，可提供8路總線競(jìng)爭(zhēng)隔離信號(hào)；

6． IC型號(hào)識(shí)別：
針對(duì)標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件，可“在線”或“離線”進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試，測(cè)試結(jié)果顯示出器件型號(hào)；對(duì)識(shí)別后的器件可直接進(jìn)行功能測(cè)試加以驗(yàn)證；

7． 器件“離線”功能測(cè)試:
所有庫(kù)器件都可進(jìn)行“離線”功能測(cè)試，如：數(shù)字邏輯器件、存儲(chǔ)器、集成運(yùn)放、光電耦合器等器件；

8． LSI大規(guī)模集成電路在線功能測(cè)試：
可對(duì)：Z80、8255、等器件進(jìn)行功能測(cè)試；

9． LSI大規(guī)模集成電路在線狀態(tài)分析測(cè)試:
可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見的LSI器件進(jìn)行狀態(tài)分析測(cè)試；

10．SRAM / DRAM讀寫存儲(chǔ)器在線測(cè)試:
直接檢測(cè)存儲(chǔ)器芯片的好壞，該測(cè)試無需事先學(xué)習(xí)，有獨(dú)立的測(cè)試器件庫(kù)，可采用在線、離線測(cè)試方式

11．EPROM在線直接讀取/比較測(cè)試：
可采取在線（離線）學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來，保存到計(jì)算機(jī)上，再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試；測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上，并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼。

12．器件循環(huán)測(cè)試功能：
該功能可對(duì)數(shù)字邏輯器件、集成運(yùn)放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測(cè)試，直到出現(xiàn)錯(cuò)誤或被終止，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障（或稱為軟故障）；

13．測(cè)試夾自動(dòng)定位功能： 該功能可以將測(cè)試夾以正、反方向，對(duì)齊或不對(duì)齊*腳的方式夾在被測(cè)器件上而不影響測(cè)試結(jié)果，利于提高測(cè)試速度；

14．?dāng)?shù)字邏輯器件在線測(cè)試速度可選：
為了保證器件測(cè)試的準(zhǔn)確性、降低誤判率，滿足不同器件對(duì)測(cè)試速度指標(biāo)的不同要求，而設(shè)置了速度可選項(xiàng)；如：對(duì)負(fù)載能力弱的CMOS器件應(yīng)選較低速度測(cè)試，一些集成度高、編程復(fù)雜的器件必須選擇較高速度測(cè)試。

15．?dāng)?shù)字邏輯器件測(cè)試閾值可調(diào)功能：
閾值電平是指判定器件輸出是邏緝１或邏輯０的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外，還可選自定義。閾值電平的選取要與被測(cè)器件的類型相*；在邏輯器件測(cè)試時(shí)，有時(shí)會(huì)遇到用閾值電平緊測(cè)試不通過，而用閾值電平松就能通過的現(xiàn)象，一般是器件的部分參數(shù)發(fā)生了變化，如驅(qū)動(dòng)能力下降,使用自定義可確定器件實(shí)測(cè)的閾值電平；

16．加電延遲可選功能：
被測(cè)電路板上的電源、地之間有濾波電容。濾波電容越大，充電時(shí)間越長(zhǎng)。該選擇是確定在測(cè)試儀接通外供電源以后，需要等待多長(zhǎng)時(shí)間后才開始進(jìn)行測(cè)試。缺省為0.5秒；

17．測(cè)試夾接觸檢查功能： 該項(xiàng)功能主要解決當(dāng)測(cè)試夾與被測(cè)器件接觸不良時(shí)，造成的測(cè)試誤判，如被測(cè)器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等；

18．瞬時(shí)復(fù)位電路控制功能： 當(dāng)測(cè)試儀突然掉電，又突然上電的情況下，不會(huì)造成測(cè)試儀內(nèi)部狀態(tài)混亂而帶來安全性問題；

19．匯能自定義功能測(cè)試平臺(tái)：
把測(cè)試儀的測(cè)試通道開放給用戶，由用戶對(duì)被測(cè)器件自行定義測(cè)試代碼，可以進(jìn)行功能測(cè)試，前提是用戶需要對(duì)器件工作原理有一定的了解，或有被測(cè)器件的使用資料，適合有圖紙資料情況下的開發(fā)工作；

20．以編程方式擴(kuò)充數(shù)字器件庫(kù)：
采用HNDDL語言（天惠電子自主開發(fā)的用于描述邏輯過程的語言，擁有自己的版權(quán)），自適應(yīng)技術(shù)完善；把擴(kuò)充程序直接開放給用戶，由用戶自己可以自行填加測(cè)試器件庫(kù)；

21．ASA（VI）模擬特征分析測(cè)試：
通過對(duì)器件端口進(jìn)行模擬特征分析測(cè)試方式（VI曲線學(xué)習(xí)/比較測(cè)試），可以發(fā)現(xiàn)器件端口型的故障（一般能占到維修當(dāng)中的80%左右）適用于數(shù)字器件、模擬器件、模擬數(shù)字混合器件（如AD、DA等），對(duì)器件的封裝形式也不受限制，可適應(yīng)于對(duì)任何器件的測(cè)試；

22．ASA多種觀察坐標(biāo)顯示：
有三種顯示方式：VI/VT/VR，一般用VI坐標(biāo)觀察曲線，有人習(xí)慣上把ASA也叫成VI測(cè)試；

23．單端口（交叉）VI曲線分析測(cè)試：
對(duì)器件采取單端口測(cè)試方式；單端口測(cè)試方式是指每個(gè)管腳對(duì)地阻抗特性曲線提??；

24．ASA 曲線雙探棒動(dòng)態(tài)比較測(cè)試：
使用雙路探棒對(duì)兩塊相同電路板上的相應(yīng)節(jié)點(diǎn)時(shí)時(shí)的進(jìn)行動(dòng)態(tài)比較測(cè)試；當(dāng)被測(cè)板上的器件不能使用測(cè)試夾測(cè)試時(shí)，此種方法zui有效；
25．ASA 曲線測(cè)試智能提醒功能：
當(dāng)使用雙探棒進(jìn)行比較測(cè)試時(shí)，如果超差，儀器會(huì)出現(xiàn)報(bào)警聲音，引起使用者注意，該測(cè)試方法利用微機(jī)喇叭產(chǎn)生類似于萬用表Beep的效果，提高了檢測(cè)效率，也大大降低了勞動(dòng)強(qiáng)度；

26．ASA 測(cè)試曲線靈敏度可調(diào)：
當(dāng)ASA曲線走勢(shì)趨向于45度時(shí)，如果曲線的數(shù)據(jù)發(fā)生變化，曲線就變化明顯，反映故障的觀察靈敏度就越精確，曲線反映故障靈敏度與測(cè)試參數(shù)相關(guān)，適當(dāng)調(diào)整測(cè)試參數(shù)能夠得到更靈敏的曲線；該測(cè)試方法能夠自動(dòng)搜索出對(duì)故障較靈敏的那根曲線，有效的提高了故障檢出率；

27．ASA 曲線掃描電壓可調(diào)：（示波器可測(cè)）
VI掃描電壓±1V～±28V, 步距0.5V可調(diào)。低檔測(cè)試儀一般設(shè)定幾檔可選但不可調(diào)；

28．ASA 曲線測(cè)試頻率可調(diào)：（示波器可測(cè)）
VI測(cè)試頻率為1HZ-16KHZ,共30檔可選。低檔測(cè)試儀一般為設(shè)定不可調(diào)，或給不出頻率指標(biāo)（國(guó)內(nèi)*能夠提供頻率指標(biāo)的測(cè)試儀）;

29．ASA 曲線測(cè)試輸出阻抗可選：
輸出阻抗匹配：0.1KΩ / 1KΩ／10KΩ／100KΩ四檔可選：

30．ASA 曲線快速診斷分析測(cè)試：
以40管腳VI曲線單端口測(cè)試為例，全過程測(cè)試時(shí)間< 1秒；

31．可按管腳設(shè)置ASA 曲線測(cè)試參數(shù)：
可根據(jù)具體器件的測(cè)試需要，給不同管腳設(shè)置不同的測(cè)試參數(shù)，可設(shè)置任一管腳為提取或不提取ASA曲線；大大提高了測(cè)試的靈活性；

32．ASA 曲線故障快速定位/查找功能：
當(dāng)VI測(cè)試出現(xiàn)故障曲線時(shí)，測(cè)試儀提供快速的曲線定位/查找功能選項(xiàng)，使用戶觀察曲線更方便、更快捷、更直觀，測(cè)試效率更高；

33．（雙測(cè)試夾、雙探棒）雙板對(duì)比測(cè)試；

34．ASA 曲線多種排列/顯示方式：
可按比較誤差降序排列顯示曲線，比較誤差升序排列顯示曲線，還可按器件管腳順序排列曲線；可以“按點(diǎn)”或“畫線”來顯示曲線，單個(gè)管腳的曲線可以單獨(dú)放大或縮??；

35．分立元件測(cè)試：
可單獨(dú)對(duì)電路板上的分立元件直接進(jìn)行VI曲線分析測(cè)試：如電阻、電容、電感等，也可以通過學(xué)習(xí)/比較的方式進(jìn)行測(cè)試；

36．可測(cè)器件檢索功能：
內(nèi)置強(qiáng)大的搜索引擎，可以對(duì)器件庫(kù)進(jìn)行檢索；檢索后可列出器件型號(hào)、所在器件庫(kù)、管腳數(shù)、封裝和功能描述。

37．元器件速查手冊(cè)（電子詞典）：
目前容量已達(dá)近四萬種，并在不斷地?cái)U(kuò)充中，供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息；

38．元器件手冊(cè)整理：
可以快速把身邊的一些器件的資料整理到手冊(cè)當(dāng)中，使用起來會(huì)更方便；

39．?dāng)?shù)據(jù)庫(kù)整理功能：
對(duì)IC狀態(tài)庫(kù)、LSI在線學(xué)習(xí)庫(kù)、EPROM離線*學(xué)習(xí)庫(kù)、EPROM在線快速學(xué)習(xí)庫(kù)、EPROM在線*學(xué)習(xí)庫(kù)、網(wǎng)絡(luò)測(cè)試庫(kù)進(jìn)行整理、刪除、更名等操作；

40．維修日記：
供記錄日常維修的經(jīng)驗(yàn)體會(huì)，發(fā)生的重要事情等，*保存這些資料并積累經(jīng)驗(yàn)，會(huì)大大提高維修水平和技能；

41．測(cè)試信息打印輸出功能：
支持對(duì)各種測(cè)試界面下的打??；

42．后臺(tái)操作記錄管理：
測(cè)試儀會(huì)自動(dòng)記錄測(cè)試過程及測(cè)試結(jié)果等信息；

43．操作幫助指南： 給使用者提供正確的操作方法、步驟；

7、TH8080-II產(chǎn)品介紹.....