半導體芯片冷熱沖擊試驗箱產(chǎn)品結構:
1.外殼冷軋鋼板噴塑/內(nèi)膽不銹鋼,箱門均采用硅橡膠密封條。
2.隔熱層:硬質(zhì)聚胺脂.超細玻璃棉
3.制冷方式:二元壓縮制冷方式(水冷冷凝器)
4.制冷機:制冷壓縮機選用2臺法國“泰康”半封閉壓縮機,其主要制冷配件均采用進口原件,組裝成為一套復疊制冷機組。在制冷管路系統(tǒng)中采用了多路能量調(diào)節(jié)回路,能較好地保證達到試驗箱的各項技術參數(shù)。
5.加熱器:不銹鋼翅片加熱器
6.IPC2000彩色LCD觸摸屏控制器,可顯示所設定運行的溫度曲線及溫度的升降動態(tài)進程
7.待測品靜止自動引導預熱區(qū)、室溫、預冷區(qū)溫度沖擊。
8.試驗箱采用三箱式?jīng)_擊試驗程式控制。高溫箱/試驗箱/低溫箱依上而下。樣品在試驗室內(nèi)保持靜止。
冷熱沖擊試驗箱規(guī)格與技術參數(shù):
型號:TS-49 400×350×350 1400×1800×1400
型號:TS-80 500×400×400 1550×1950×1550
型號:TS-150 600×500×500 1600×2000×1700
型號:TS-252 700×600×600 1700×2100×1750
型號:TS-450 800×750×750 1800×2200×1900
型號:TS-900 1000×900×900 2100×2400×2200
測試區(qū)溫度范圍:高溫:+60℃~+150℃
低溫:-10℃ ~ -65℃(A:-45℃ B:-55℃ C:-65℃)
(高溫區(qū))升溫時間:RT—200℃約需45min
(低溫區(qū))降溫時間:RT—-70℃約需90min
回復時間:5min內(nèi)
溫度穩(wěn)定度:±0.2℃
保溫材質(zhì):耐高溫、高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣材料
系 統(tǒng):P.I.D+S.S.R+微電腦平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)
冷凍系統(tǒng):法國泰康全封閉風冷式復疊機
保護裝置:無熔絲開關、壓縮機高低壓保護開關、冷媒高壓保護開關、故障警告系統(tǒng)、電子警報器
配 件:上下可調(diào)隔層兩片
電 源;3Φ220VAC±10% 50/60Hz & 3Φ 380V/415V AC±10% 50Hz
三箱式:該沖擊試驗箱為待測品靜置之冷熱交替沖擊方式,廣泛使用于電子零組件測試,半導體,電子線路板,金屬化學,材料等測試設備。試驗箱下部為低溫蓄冷區(qū),上部為高溫蓄熱區(qū),試件(待測品)放置在試驗箱中部,高溫沖擊時,上風門打開,形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時,上風門關閉,下風門打開,形成低溫內(nèi)循環(huán)。該沖擊試驗箱的特點是:試件(待測品)靜止不動,使用戶避免了因試件移動帶來的諸多不便。
半導體芯片冷熱沖擊試驗箱產(chǎn)品用途
冷熱沖擊試驗箱產(chǎn)品適用于電子元器件性能測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選試驗等,同時通過此裝備試驗,可提高產(chǎn)品的可靠性和進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。設備符合MIL-STD-883C,GB/T2423.13,GJB-150.5GJB1217-91等標準的要求。二箱式:上部為高溫箱,下部為低溫箱,兩箱之間由樣品架連結,經(jīng)氣動系統(tǒng)在兩箱間切換。