370A泰克晶體管測試儀

深圳佳捷倫電子儀器有限公司

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370A程控特性曲線圖示儀

370A是的高分辨率特性曲線圖示儀，可應(yīng)用到許多場合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管、可控硅、場效應(yīng)管、光電元件、太陽能電池、固態(tài)顯示和其它半導(dǎo)體器件的直流參數(shù)特性的測試。

在研發(fā)實(shí)驗(yàn)室，用370A來完成新器件、SPIEC參數(shù)的提取、失敗分析和產(chǎn)生數(shù)據(jù)報(bào)告這些具體的測試工作。  

Tektronix泰克370A晶體管測試儀

附加的功能：

半導(dǎo)體器件的高精度測量

高達(dá) 2000 伏或 10 安的電源

高達(dá) 220 瓦

1 納安測量分辨率

低至 2 毫伏的測量分辨率

波形比較

信封顯示

波形平均

點(diǎn)光標(biāo)

開爾文感應(yīng)測量

可編程

3.5 英寸 MS DOS 兼容磁盤存儲，用于保存和調(diào)用設(shè)置

泰克 370A 可編程曲線跟蹤器是一款高分辨率曲線跟蹤器，可在高達(dá) 2000 V 或 10 安培、高達(dá) 200 瓦、低至 1 納安/2 毫伏測量分辨率的范圍內(nèi)對半導(dǎo)體器件進(jìn)行高精度測量。它還具有波形比較和平均功能。

詳細(xì)說明

TEK370A晶體管測試儀TEK370B主要參數(shù)：

·半導(dǎo)體器件高精度測量

-上限達(dá)2000V或電流到10A的源（370A）

-上限到3000V（371A）

-上限到220W（370A）

-上限到400A（371A） -1nA的測量分辨率

-上限到3000W（371A） ·

上限到2mV的測量分辨率（370A）

波形對比 ·包絡(luò)顯示 ·波形平均

點(diǎn)光標(biāo)（370A） ·Kelvin傳感測量

全程控 ·MS-DOS兼容的軟盤，方便設(shè)置參孝存儲和調(diào)用應(yīng)用手動或自動進(jìn)行半導(dǎo)體高分辨率DC參數(shù)測量來料檢查生產(chǎn)測試過程監(jiān)視及質(zhì)量控制數(shù)據(jù)報(bào)告的生成元件配對失效分析工程測試交互式程控所有交互式程控測量是通過有鮮明特點(diǎn)的前面板或GPIB來完成的。使用幾種存儲方式，調(diào)整和存儲操作參數(shù)，包括370A的非易失存儲器、內(nèi)置的MS-DOS兼容的軟盤或到外部控制器。測試夾具測試夾具是標(biāo)準(zhǔn)附件，它提供被測器件安全防護(hù)，以保護(hù)測量人員的安全。測試夾具適應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的A1001，中間通過Kelvin傳感的A1005適配器、無Kelvin傳感的3芯適配器和A1023、A1024表面封裝適配器。 370A程控特性曲線圖示儀 370A是的高分辨率特性曲線圖示儀，可應(yīng)用到許多場合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管、可控硅、場效應(yīng)管、光電元件、太陽能電池、固態(tài)顯示和其它半導(dǎo)體器件的直流參數(shù)特性的測試。在研發(fā)實(shí)驗(yàn)室，用370A來完成新器件、SPIEC參數(shù)的提取、失敗分析和產(chǎn)生數(shù)據(jù)報(bào)告這些具體的測試工作在制造過程中，用370A檢驗(yàn)器件質(zhì)量及過程監(jiān)視。 370A可進(jìn)行來料檢查、器件性能測試、失效分析和器件配對這些測試工作。

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