美國安捷倫電源測量單元
'主要特性與技術(shù)指標
直流和時間相關測量可讓您對電流-電壓（IV）測量結(jié)果充滿信心
4 象限電源和測量功能可讓您在低至 fA（毫微微安培）的范圍內(nèi)進行精確的電流-電壓（IV）表征
測量范圍是 0.1 fA - 1 A / 0.5 µV - 200 V
提供點測量、掃描測量、脈沖和采樣測量功能
美國安捷倫B1517A 電源測量單元
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深圳佳捷倫電子儀器有限公司
聯(lián)系：陳娟
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'主要特性與技術(shù)指標
直流和時間相關測量可讓您對電流-電壓（IV）測量結(jié)果充滿信心
4 象限電源和測量功能可讓您在低至 fA（毫微微安培）的范圍內(nèi)進行精確的電流-電壓（IV）表征
測量范圍是 0.1 fA - 1 A / 0.5 µV - 200 V
提供點測量、掃描測量、脈沖和采樣測量功能
采樣測量間隔低至 100 μs
脈寬最小值為 500 μs，使用 2 μs 分辨率
準靜態(tài)電容-電壓（QS-CV）測量，具有泄露電流補償
描述
在低至次 fA / µV 分辨率上執(zhí)行低電流/電壓測量，實現(xiàn)直流測量性能
電源/測量單元（SMU）是 Agilent B1500A 半導體器件分析儀的關鍵測量模塊。SMU 集成了電壓/電流源和測量功能，可在低至 fA / µV 分辨率上執(zhí)行精確的直流電流-電壓（IV）測量。選件 ASU（自動傳感和開關單元）可將低電流測量性能向下擴展至次 fA 范圍，為您提供更高的測量性能。
SMU 還可執(zhí)行準靜態(tài)電容-電壓（QS-CV）測量。它不僅擁有低頻 CV 特征，同時還是表征柵極晶體管的表面態(tài)以及高頻 CV 的重要測量方法。Agilent B1500A 支持精確的 QS-CV 測量和泄露電流補償。
對于要求進行精密電壓/電流測量的半導體、納米器件（例如碳納米管（CNT）和碳納米線（CNW））、有源/無源元件、材料以及任意電氣器件，SMU 結(jié)合使用 EasyEXPERT 軟件的分析和數(shù)據(jù)管理能力，非常適合對這些器件進行表征。
利用硬件時鐘精密計時控制功能可實現(xiàn)精確的時間相關表征（例如脈沖和采樣測量）
除了直流測量功能之外，Agilent B1500A SMU 還具備*的時間相關測量功能，包括脈勢測量和采樣測量。脈沖和采樣測量能夠找出并捕獲動態(tài)特征。計時精度是時間相關測量的重要因素之一。Agilent B1500A SMU 利用硬件時鐘精密計時控制功能來執(zhí)行精確的測量。低采樣測量間隔低至 100 μs，脈寬最小值為 500 μs。
備注：
我們的優(yōu)勢：
品種齊全，貨源充足，存庫雄厚，服務快捷，維修能力強。
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我公司對銷售的儀器儀表均負責保修一年.
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