DC-70E射頻電容物位計系全套引進(jìn)技術(shù)及制造工藝生產(chǎn)的物位測量產(chǎn)品之一。它使復(fù)雜的物位測量如高溫、高壓、真空、強(qiáng)腐蝕等介質(zhì)的物位測量變得容易而簡單。經(jīng)過幾年的努力和實踐，以射頻電容技術(shù)為核心的物位測量系統(tǒng)日臻完善，現(xiàn)已開發(fā)利用并生產(chǎn)出能夠滿足不同要求（如污水、污油、熔融介質(zhì)、固體顆粒等）的物位測量產(chǎn)品。
工作原理
導(dǎo)納（電容）物位計的探極做為導(dǎo)納（電容）的一個極，另一極可能是金屬罐壁，也可能是同軸套管，罐中的介質(zhì)作為電介質(zhì)。在空罐狀態(tài)下電容最小，因為空氣的相對介電常數(shù)=1。隨著罐中介質(zhì)的增多，物位上升，電容也隨著增大，因為大多數(shù)物質(zhì)的介電常數(shù)都比空氣大。如下圖所示：
傳統(tǒng)的方法是用交流電橋式、充放電式或諧振式電路來檢測電容的阻抗（容抗），被測出來的信號是一個模擬信號（通常為電流）。這種方法的優(yōu)點一是電路功耗低，易于做成兩線制4-20mA輸出，二是被測信號和電容為線性關(guān)系。但這種方法的缺點也很明顯：首先是介質(zhì)的電導(dǎo)率對測量影響很大，其次是易受電噪音的影響而使測量信號不穩(wěn)定。
DC-70E智能型射頻導(dǎo)納（電容）物位計采用的是國際上*的射頻導(dǎo)納（電容）技術(shù)。一個射頻振蕩器施加于電容兩端，只有電容的變化才能引起振蕩器輸出頻率的變化。因而這種變化具有以下優(yōu)點：介質(zhì)的其它特性如電導(dǎo)率等對輸出幾乎沒有任何影響，由于溫度對電容影響也很小，所以測量幾乎也與溫度無關(guān)；對噪聲干擾很不敏感，可以以1km的距離來傳輸信號。
主要特點
- 應(yīng)用射頻電容技術(shù)，從根本上解決了溫度、濕度、壓力、物質(zhì)的導(dǎo)電性等因素對測量過程的影響，因而具有的抗干擾性和可靠性。
- 結(jié)構(gòu)簡單，安裝容易。
- 能夠測量強(qiáng)腐蝕性的液體和固體顆粒。如酸、堿、鹽、水、污水等液體和化工原料、飼料、糧食、煤灰、水泥、面粉等粉狀或顆粒狀固體。
- 高溫、高壓測量：過程溫度-40～220℃； 過程壓力-0.1～4.0MPa。
- 的兩點現(xiàn)場定標(biāo)技術(shù)為用戶輕松地投用產(chǎn)品提供了便利。
技術(shù)指標(biāo)
- 測量方式：射頻電容，采用16位單片機(jī)來校正頻率和電容之間的非線性
- 電源：24VDC±10%，220VAC±10%
- 精度：0.5%
- 輸出：4～20mA模擬電流或4～20mA +HART協(xié)議輸出
- 測量介質(zhì)：相對介電常數(shù)ε＞1.6
- 功耗：≤3W
- 電氣接口：M20×1.5
- 防護(hù)等級：IP65
- 儀表外殼：鋁合金，可用于潮濕、腐蝕等惡劣環(huán)境
- 環(huán)境溫度：-30～70℃
- 環(huán)境濕度：0～95%RH
- 過程溫度：-30～200℃
- 過程壓力：-0.1～4.0MPa
- 探極：可采用任一種剛性或柔性探極。
探極的選擇
- 量程超出兩米盡量選擇柔性探極，安裝方式推薦法蘭安裝，以便于重錘放入容器。
- 球型、橢圓型、非金屬容器或金屬容器帶絕緣材料內(nèi)襯需配同心屏蔽套管，或不銹鋼棒。
- 測量介電常數(shù)小的介質(zhì)需配同心屏蔽套管。
- 選擇柔性探極配重錘時，需選擇DN50以上法蘭或2″以上螺紋。
- 選擇同軸探極時，需注明同軸管外徑及螺紋規(guī)格，如Φ40/G2″。
