FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡-儀表網(wǎng)

公司介紹主營產(chǎn)品

廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司（原廣州貝拓儀器設(shè)備有限公司）是一家致力于向高科技企業(yè)、科研機(jī)構(gòu)及高校提供*實(shí)驗(yàn)分析儀器、設(shè)備的供應(yīng)商。我們不僅僅提供產(chǎn)品，我們還可以幫助客戶在檢測、分析和生產(chǎn)過程當(dāng)中得到*、可靠的技術(shù)服務(wù)和解決方案。

從成立的那一天起，我們就把“Touch the future”作為公司*發(fā)展的核心理念。我們的客戶是各自行業(yè)的技術(shù)者；我們代理的品牌是享譽(yù)的品牌，產(chǎn)品的質(zhì)量和技術(shù)性能早已贏得業(yè)界和用戶的*和信賴，部分產(chǎn)品更是在其領(lǐng)域成為技術(shù)的，如: betop貝拓科學(xué)自主產(chǎn)品接觸角測量儀、光學(xué)膜厚儀；AUCUMA澳柯瑪；普析通用XRD，XRF；HITACHI日立熱分儀、紫外可見光、差示掃描量熱儀；中國臺(tái)灣OTO光纖光譜儀；德國WITec的拉曼光譜儀、近場光學(xué)（SNOM）；Anasys的納米紅外光譜儀；Andor的CCD、光譜儀；FEI掃描電子顯微鏡；美國PROTO；OXFORD的低溫恒溫器、臺(tái)式核磁、AFM；AMETEK旗下輸力強(qiáng)（Solartron)和普林斯頓的電化學(xué)工作站；LEICA 顯微鏡系統(tǒng)；顯微鏡和電鏡前處理設(shè)備等等。

我們的優(yōu)勢和專注點(diǎn)集中于材料測試方面，其中包括材料的結(jié)構(gòu)、元素分布、表面特征、物理化學(xué)特性以及光學(xué)、電學(xué)特性的分析。

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產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

FEI “Q系列"掃描電子顯微鏡是較經(jīng)濟(jì)、高效的高分辨成像和分析應(yīng)用的解決方案。在設(shè)計(jì)上側(cè)重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他們所需的數(shù)據(jù)。

FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡產(chǎn)品詳情

產(chǎn)品介紹

品牌	自營品牌

FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡

對(duì)于失效分析、質(zhì)量控制和材料表征而言、Q25是、高效的高分辨成像和分析應(yīng)用的解決方案。在設(shè)計(jì)上側(cè)重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他們所需的數(shù)據(jù)。

為應(yīng)對(duì)不導(dǎo)電樣品、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了對(duì)的樣品制備步驟或者附加的樣品鍍膜儀的需求。Q25樣品室的設(shè)計(jì)和真空系統(tǒng)能夠快速更換樣品、允許日常高效、快速檢測樣品。

為滿足客戶對(duì)大樣品或塊狀樣品的要求、Q45提供了更大的真空樣品室和100mm的樣品臺(tái)行程。另外、Q45加上了環(huán)境掃描（ESEM）模式、擴(kuò)展了SEM的成像和分析功能到加熱、含水或放氣的樣品。

簡單易用，即使是新手利用直觀的軟件可實(shí)現(xiàn)高效操作。
利用穩(wěn)定的高束流（上至2 μA）電子束可以迅速獲得精確的分析結(jié)果。
快速輕松表征導(dǎo)電和非導(dǎo)電樣品
支持可選的分析功能。利用的多級(jí)穿過透鏡的真空系統(tǒng)在高真空和低真空下使導(dǎo)電樣品和不導(dǎo)電樣品的精確EDS分析成為可能。
Q45 SEM: 采用為ESEM選配的帕爾貼冷臺(tái)可在樣品的自然含水狀態(tài)下完成樣品的動(dòng)態(tài)原位分析。

FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡

分辨率

加速
電壓

探針電流樣品臺(tái)

放大率

試件室尺寸

Q25 SEM

High vacuum

3.0 nm at 30 kV (SE)
4.0 nm at 30 kV (BSE)*
8.0 nm at 3 kV (SE)

Low vacuum

3.0 nm at 30 kV (SE)
4.0 nm at 30k V (BSE)*
10 nm at 3 kV (SE)

*optional

200 V - 30 kV

up to 2 μA, continuously adjusted

13 to 1000000x

284 mm size left to right

Q45 SEM

High vacuum

3.0 nm at 30 kV (SE)
4.0 nm at 30 kV (BSE)*
8.0 nm at 3 kV (SE)

High vacuum with beam deceleration option 7.0 nm at 3 kV(BD mode* + vCD*)

Low vacuum

3.0 nm at 30 kV (SE)
4.0 nm at 30k V (BSE)*
10 nm at 3 kV (SE)

Extended vacuum mode (ESEM)
3.0 nm at 30 kV (SE)

*optional

200 V - 30 kV

up to 2 μA, continuously adjusted

6 to 1000000x

284 mm size left to right

關(guān)鍵詞：電子顯微鏡顯微鏡

熱門產(chǎn)品

產(chǎn)品名稱	參考價(jià)	地區(qū)	公司名稱	更新時(shí)間
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電子顯微鏡	￥3200	青島市	青島聚創(chuàng)環(huán)保集團(tuán)有限公司	2024-06-16	在線詢價(jià)
IKEIDARIKA池田理化透射電子顯微鏡JEM-F200	￥35400	深圳市	深圳市井澤貿(mào)易有限公司	2023-03-29	在線詢價(jià)
高分辨率X射線顯微CT（XRM）電子顯微鏡	面議	武漢市	武漢市艾德寶儀器設(shè)備有限公司	2023-10-28	在線詢價(jià)
手持式現(xiàn)場檢測偏光數(shù)碼顯微鏡電子顯微鏡	面議	北京市	北京福祿克斯科技有限公司	2024-08-07	在線詢價(jià)
臺(tái)式掃描電子顯微鏡	￥1200000	深圳市	深圳市中圖儀器股份有限公司	2024-12-27	在線詢價(jià)

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