產(chǎn)品簡(jiǎn)介:ED400型 渦流測(cè)厚儀(PCB電子行業(yè)專(zhuān)用型)
產(chǎn)品介紹:
ED400型 渦流測(cè)厚儀
ED400型渦流測(cè)厚儀是ED300型測(cè)厚儀的改進(jìn)型,儀器性能顯著提高。
儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度,還可用于測(cè)量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度,測(cè)量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。
儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷(xiāo)售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無(wú)損的膜厚檢查, 可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
天星渦流測(cè)厚儀自1993年開(kāi)始生產(chǎn)以來(lái),伴隨著我國(guó)鋁加工行業(yè)的成長(zhǎng),其自身也在不斷改進(jìn)和提高,目前,已生產(chǎn)了ED200型、ED300型和ED400型三代產(chǎn)品, ED400型渦流測(cè)厚儀是一代產(chǎn)品,其產(chǎn)品質(zhì)量和測(cè)試精度達(dá)到國(guó)外儀器水平,其耐用性非常突出,超過(guò)國(guó)內(nèi)外儀器。天星測(cè)厚儀以良好的質(zhì)量,及時(shí)、優(yōu)質(zhì)、低費(fèi)用的售后服務(wù)得到用戶(hù)的廣泛贊譽(yù)和認(rèn)可,天星測(cè)厚儀在鋁型材行業(yè)的超過(guò)90%,成為該行業(yè)的產(chǎn)品。
ED400型渦流測(cè)厚儀特點(diǎn):
量程寬
ED400型渦流測(cè)厚儀量程達(dá)到0~500 μm。
精度高
測(cè)量精度達(dá)到2%。
分辨率高
分辨率達(dá)到0.1μm。
校正簡(jiǎn)便
只校正“0”和“50 μm”兩點(diǎn),即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
基體導(dǎo)電率影響小
基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí),測(cè)量誤差不大于1~2 μm。
可靠性提高
采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件,電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化,儀器可靠性提高。
穩(wěn)定性提高
采用*的溫度補(bǔ)償技術(shù),測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用。
探頭芯壽命長(zhǎng)
采用高強(qiáng)度磁芯材料,微調(diào)了探頭設(shè)計(jì),探頭芯壽命可大大延長(zhǎng)。
技術(shù)參數(shù) | ||
測(cè)量范圍: | 0~500 μm | |
測(cè)量精度: | 0~50 μm:±1 μm; | |
50~500 μm:±2% | ||
分辨率: | 0~50 μm:0.1 μm; | |
50~500 μm:1 μm; | ||
0~500 μm:1 μm(可選) | ||
使用溫度: | 5~45℃ | |
外形尺寸: | 150 mm×80 mm×30 mm | |
重量: | 280 g
標(biāo)準(zhǔn)配件清單
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