產(chǎn)品功能和應(yīng)用Applications
█測試平面光學(xué)元件（如棱鏡、濾光片、光柵、平行平板、鍍膜、半導(dǎo)體器件、太陽能電池片等）的吸收、透射/反射光譜。
█ 測試球面光學(xué)元件（凹面鏡、凸面等）的吸收、透射/反射光譜。
█測試各種漫反射樣品或粉末的散射吸收光譜
█ 測試各種材料（半導(dǎo)體材料、薄膜材料、溶液、玻璃、晶體、布料、汽車貼膜、眼鏡等）的吸收、透射/反射光譜。
█ 測試各種農(nóng)產(chǎn)品（水果、稻谷、小麥）的吸收、散射光譜。
█測試各種光與物質(zhì)作用時，通過光信號不同波長的吸收判斷物質(zhì)特性的領(lǐng)域
主要規(guī)格及特色Features&Benefits
█ 光譜范圍：0.2um~28um(光譜范圍可選，常用范圍：350nm-900nm，200nm-1100nm，350nm-2500nm，200nm-2500nm，1-5um，8-14um,2-16um等)
█波長分辯率：0.03nm~10nm （由所選波長范圍確定）
█ 測試系統(tǒng)高集成度，全自動化的測量
█光源采用德國OSRAM紫外、可見、近紅外燈泡，進(jìn)口中遠(yuǎn)紅外SiC或SiN發(fā)光模塊
█ 光信號探測采用美國進(jìn)口高靈敏度紫外、可見、紅外探測器，并且可選擇配套TEC制冷或液氮制冷，大大降低探測器的暗噪聲水平
█針對特別弱的紅外信號，信號處理部分可選配美國進(jìn)口的鎖相放大器和光學(xué)斬波器
█兩種專用系統(tǒng)可選，分別針對平面光學(xué)元件和球面光學(xué)元件光譜分析測試
█系統(tǒng)可擴(kuò)展升級測量平面光學(xué)元件不同入射角的反射和透射光譜
█ 專業(yè)優(yōu)化設(shè)計的系統(tǒng)光路，雜散光小，通光效率高
█ 超大多功能樣品室，便于操作，可選擇液體、固體樣品架；并配備透射專用比色皿
█可選積分球附件，專門用于測試各種漫反射樣品
█軟件自動化控制
█系統(tǒng)擴(kuò)展性好，方便客戶購買基本配置后進(jìn)行系統(tǒng)升級和功能擴(kuò)展
產(chǎn)品參數(shù)Specifications
產(chǎn)品型號Model | LE-SP-ART Series |
光源Light source | LEOPTICS? UV-VIS-IR Stabilized Light source（Optional） |
光源功率Lamp Power | 30W~1550W(Optional)； |
光譜測試范圍Spectral Range | 200nm~28um |
光譜分辨率Spectral Resolution | 0.03nm~10nm(Optional) |
測量內(nèi)容Measurement | 透射、反射、吸收光譜（可選） |
樣品尺寸Sample Dimension | 5mm~68mm（Optional），特殊大小可定制 |
樣品類型Sample Type | 固體平面&薄膜或液體（標(biāo)準(zhǔn)），特殊樣品可定制樣品測試夾具 |
波長重復(fù)性Wavelength Repeatability | 0.1nm |
波長準(zhǔn)確度Wavelength Accuracy | 0.2nm |
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