倒置結(jié)構(gòu)的設計使得XploRA INV與AFM的耦合變得很方便,可以實現(xiàn)拉曼-AFM聯(lián)用及針尖增強拉曼光譜(TERS),使我們在樣品測試過程中可以獲得納米級別的空間分辨率。
XploRA INV的開放式結(jié)構(gòu)保留了常規(guī)倒置顯微鏡各種附件的功能和兼容性,包括顯微控制器和“光鑷”以及特殊的細胞應用附件等。
帶顯微進樣器的XploRA INV樣品臺
XploRA INV也可與HORIBA一些的掃描成像附件進行耦合,如使用DuoScan技術進行多通道超快速光譜成像,以及使用3D快速共焦成像(FCI)模塊進行超快速熒光成像,從而快速尋找樣品。
該圖為使用XploRA INV分析尼羅紅在胚胎中的分布結(jié)果,顯示了細胞中尼羅紅與不同成分的結(jié)合狀態(tài)。左、中和右圖分別為白光圖像、FCI熒光圖像和高光譜共焦熒光成像。
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