GW-4040 XRF巖屑元素分析儀
GW-4040型XRF巖屑元素分析儀是利用初級(jí)X射線光子或其他微觀離子激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光(次級(jí)X射線)而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究的方法。將Ｘ射線熒光分析（ＸＲＦ）用于巖屑錄井是目前巖屑分析中速的技術(shù)，這項(xiàng)技術(shù)的獨(dú)到之處在于：能過巖屑化學(xué)元素組合特征的分析來識(shí)別巖性，再通過巖性的組合特征分析來判斷層位．因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。
- 測(cè)量?jī)?nèi)容：Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等
- 使用用途：油氣開采過程中的巖屑錄井檢測(cè)
產(chǎn)品特點(diǎn)
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性能
高性能
優(yōu)選進(jìn)口X射線管以及高性能探測(cè)器，確保長(zhǎng)期的穩(wěn)定性以及準(zhǔn)確度。
快響應(yīng)
相對(duì)于傳統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)室化驗(yàn)等方式，光學(xué)檢測(cè)手段可以一秒內(nèi)可以進(jìn)行多次檢測(cè)。
長(zhǎng)壽命
無(wú)需耗材，壽命最長(zhǎng)可達(dá)5-8年，綜合使用成本更低。 -
便攜性
相對(duì)于傳統(tǒng)類的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備，我們的光學(xué)設(shè)備無(wú)需任何耗材以及輔助設(shè)備，方便在作業(yè)現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行便攜使用。
為了更好的讓客戶在野外操作，設(shè)備還需抗震和牢固，我們首先給設(shè)備配備了拉桿式鋁合金包裝箱，讓運(yùn)輸更安全。
其次整體光路模塊采用整體不銹鋼CNC一體加工，從來穩(wěn)定性牢固性更好。 -
準(zhǔn)確性
儀器集成了管壓檢測(cè)、溫度檢測(cè)，實(shí)時(shí)監(jiān)控腔內(nèi)的真空壓力和溫度，確保檢測(cè)的精度。
真空腔內(nèi)置過濾隔離裝置，仿制待測(cè)體的灰塵進(jìn)入探測(cè)器探頭和射線管端子，導(dǎo)致污染損壞。
內(nèi)置步進(jìn)電機(jī)使樣品環(huán)在檢測(cè)過程中始終處于旋轉(zhuǎn)狀態(tài)，提供檢測(cè)的準(zhǔn)確度。
技術(shù)指標(biāo)
| 分析元素 |
Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等 |
| 探測(cè)下限 |
Al、Si、P、S、Ca：0.01% Ti、V、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn：0.001%
|
| 分析范圍 | 0.0001％-99% |
| 能量范圍 | 1-30keV |
| 采樣時(shí)間 | <180s |
| 重復(fù)性誤差 | ≤±1%F.S |
| 穩(wěn)定性 | ≤±1%F.S |
| 輸出信號(hào) |
RS-232&USB數(shù)字輸出 |
| 配件 | 真空泵+筆記本電腦+壓片機(jī) |
| 外殼尺寸 | 355*250*380(長(zhǎng)*寬*高) |
| 重量 | 36Kg |
*具體量程可能會(huì)有細(xì)微偏差。
*工作在溫度25℃和1013mbar測(cè)試數(shù)據(jù)。
技術(shù)原理
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技術(shù)原理
利用初級(jí)X射線光子激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級(jí)X射線）。不同元素發(fā)出的特征X射線能量和波長(zhǎng)各不相同，因此通過對(duì)X射線的能量或者波長(zhǎng)的測(cè)量可以對(duì)元素進(jìn)行定性的分析；同時(shí)樣品受激發(fā)以后發(fā)射某一元素的特征X射線強(qiáng)度跟元素在樣品中的含量有關(guān)，因此可以對(duì)元素進(jìn)行定量分析。 -
光學(xué)結(jié)構(gòu)
分析儀由如下光學(xué)技術(shù)平臺(tái)構(gòu)成，該技術(shù)平臺(tái)由X射線管、真空倉(cāng)、探測(cè)器等光學(xué)組件構(gòu)成。X射線管發(fā)出的光直接照射在待測(cè)樣品，激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光，被探測(cè)器接收。通過對(duì)熒光譜線進(jìn)行分析，可以分析出待測(cè)樣品中的元素成分和含量。 -
金屬元素的光譜
不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長(zhǎng)，因此根據(jù)熒光X射線的波長(zhǎng)可以確定元素的組成。X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線，它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息，通過對(duì)上述X射線熒光的分析確定被測(cè)樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。 -
巖屑成分
可一次性實(shí)現(xiàn)多達(dá)十幾種元素的快速、無(wú)損、準(zhǔn)確分析。
自動(dòng)穩(wěn)譜，消除譜峰水可載舟漂移影響，精確度達(dá)98%以上。
集成大量數(shù)據(jù)庫(kù)，并實(shí)時(shí)更新，目前可以識(shí)別巖屑成分多達(dá)上百種。
應(yīng)用領(lǐng)域
GW-4040型XRF巖屑元素分析儀，是本公司針對(duì)石油氣、天然氣、煤層氣、頁(yè)巖氣等清潔能源的開采而專門開發(fā)的高精度光學(xué)巖屑元素分析儀?？梢院芎玫慕鉀Q人工判斷的誤差性，以及傳統(tǒng)設(shè)備的不便捷性，更好了為測(cè)錄井提供原始數(shù)據(jù)。該設(shè)備小巧無(wú)輔助設(shè)備，目前在油田得到廣大客戶的使用。
產(chǎn)品主要用于以下場(chǎng)合：
● 油氣鉆井巖屑錄井；
● 物探巖石檢測(cè)等。 
產(chǎn)品主要用于以下場(chǎng)合：
● 油氣鉆井巖屑錄井；
● 物探巖石檢測(cè)等。
