簡(jiǎn)單介紹
測(cè)試電壓：50V~5000V
測(cè)試電壓在50V-1000V的范圍里以10V步進(jìn)遞增，1KV-5KV的范圍里以25V步進(jìn)遞增
測(cè)試電阻（阻抗）顯示大讀數(shù)15TΩ，顯示小讀數(shù)10KΩ
短路電流：5mA
實(shí)時(shí)輸出：能連續(xù)不斷的輸出測(cè)試電壓，電流和阻抗
| 美國(guó)Megger （AVO）絕緣電阻測(cè)試儀S1-554/2的詳細(xì)介紹 |
美國(guó)Megger （AVO） S1-554/2 5KV絕緣電阻測(cè)試儀（高壓兆歐表） （替代S1-5001、S1-5005） 產(chǎn)品特點(diǎn)： ▲全新的S1-554/2絕緣電阻測(cè)試儀是MEGGER特別設(shè)計(jì), 用來(lái)測(cè)試和維護(hù)高壓設(shè)備的佳儀器。 ▲雙路電源輸入設(shè)計(jì)：可充電電池或主電源輸入。儀器可由220V電源供電，也可以由儀器內(nèi)置可以充電電池供電。這樣有一個(gè)好處就是要測(cè)試的場(chǎng)不清楚是否有電源或者測(cè)試周期不清楚的時(shí)候，都可以來(lái)進(jìn)行測(cè)試。 ▲數(shù)字/模擬雙顯示測(cè)試結(jié)果 ▲測(cè)試電壓由 50V至5KV可調(diào) 測(cè)試電壓在 50V-1000V 的范圍里以10V（步進(jìn)）微調(diào)，1KV-5V的范圍里以25V（步進(jìn)）微調(diào)。 ▲絕緣電阻測(cè)量測(cè)試范圍15TΩ,用于對(duì)高質(zhì)量絕緣材料的絕緣趨勢(shì)分析等。
▲絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)置五種可設(shè)置工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)絕緣測(cè)試程序，可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)試，提供全部分析結(jié)果： ▲全新設(shè)計(jì)的背光LCD顯示屏使操作者在陽(yáng)光下或者光線(xiàn)很暗的情況下輕松讀出數(shù)據(jù)。 ▲絕緣電阻測(cè)試儀顯示的信息：絕緣阻值，實(shí)時(shí)測(cè)試電壓，泄漏電流，等效電容，電池狀態(tài)和時(shí)間常數(shù)。同時(shí)，每次測(cè)試時(shí)LCD上還會(huì)顯示已測(cè)試時(shí)間，這就不需要在測(cè)試時(shí)額外計(jì)時(shí)。 ▲絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)置了多個(gè)計(jì)時(shí)器，還具備絕緣測(cè)試設(shè)限告警功能。 ▲儀器上還帶有一個(gè)接地端子，使儀器能提高其性。 ▲儀器的標(biāo)號(hào)分別標(biāo)在儀器的頂部和旁邊，方便儲(chǔ)存或者運(yùn)輸?shù)臅r(shí)候辨認(rèn)。 ▲儀器的控制的操作都清楚的寫(xiě)在儀器隨機(jī)器附帶的說(shuō)明書(shū)里面。 產(chǎn)品功能： 內(nèi)置多種自動(dòng)測(cè)試程序： ▲IR 絕緣電阻測(cè)試、 ▲DAR 吸收比測(cè)試 （介電吸收率）、 ▲PI 極化指數(shù)測(cè)試、 ▲SV 步進(jìn)電壓（跨步電壓）測(cè)試 ▲DD 測(cè)試 （介質(zhì)放電）） ▲絕緣電阻大測(cè)試范圍15TΩ, ▲提供USB與RS232接口下載數(shù)據(jù) ▲儀器內(nèi)置32KB存儲(chǔ)器可保存測(cè)試結(jié)果:電壓，測(cè)試時(shí)間，泄漏電流，阻抗，電容，PI, DAR, DD 產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)： 電源 95-240V，50/60 Hz 60VA 電池使用時(shí)間 在5KV 狀態(tài)下，可進(jìn)行6小時(shí)連續(xù)測(cè)試 測(cè)試電壓（DC） 50~1KV到 1 kV 以10V為步進(jìn)電壓 1 kV 到 5 kV 以25V為步進(jìn)電壓 精度 ± 5% 1TΩ （23°C） ± 20% 10TΩ 短路電流/ 5mA 充電時(shí)間 在 5mA / 5kV狀態(tài)下充電時(shí)間≤1.5 s /μF 電容放電時(shí)間 放電從 5000 V 到 50 V時(shí)間為≤ 120ms/μF 電容測(cè)量 |
