儀器名稱: | 臺階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀 | 型號 | 美國KLA-Tencor D-120 |
檢測項目: | 1、薄膜、涂層厚度測量; 2、表面粗糙度+三維形貌; 3、表面粗糙度測量; 4、三坐標測量+三維形貌測量; 5、2D薄膜應(yīng)力測量; 6、2D彎曲度和形狀測量。 | ||
儀器性能: | 掃描長度:≤30mm; 垂直測量范圍(臺階高度):≤1.9mm; 掃描速度:2μm/s到200μm/s; 垂直范圍分辨率:2.5μm臺階高度內(nèi)測量分辨率0.1nm; 重復(fù)精度:0.6nm或0.1%臺階高度 樣品厚度:≤20mm; | ||
應(yīng)用范圍: | 可用于微電子、半導(dǎo)體、太陽能、薄膜、材料等領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)納米級別表面二維形貌測量。垂直分辨率1A;垂直范圍0-1mm;單次掃描長度范圍小于55mm。 | ||
制樣要求: | 長寬小于30mm,厚度小于20mm, |
PS:送樣請附帶“委托測試單”。
測試提示:
1.可開正規(guī)測試發(fā)票,附帶測試清單。
2.有腐蝕性,毒性,或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員,測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會對儀器產(chǎn)生損傷,測試后會對樣品產(chǎn)生哪些變化;
3.客戶需提供詳細的樣品資料,包括元素,主要成分和詳細測試參數(shù)及條件。和測試人員充分討論,商定最終測試條件;
4.測試人員與顧客通過或郵件溝通,出現(xiàn)測試糾紛,郵件或記錄將作為重要的仲裁依據(jù);請加和技術(shù)人員交流:。
5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關(guān)法律法規(guī)的樣品,一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。