EK2000-Pro是一款科研領(lǐng)域和工業(yè)研究領(lǐng)域的便攜式微型光纖光譜儀。該系列光譜儀采用面陣背照式CCD探測器,的交叉光路設(shè)計(jì),具有高靈敏度、高量子化效率和高動(dòng)態(tài)范圍的特點(diǎn),并且能夠響應(yīng)至深紫外波段。該系列光譜儀多用于微弱光的檢測,如熒光檢測等。
產(chǎn)品參數(shù)
- 探測器
參數(shù) | 指標(biāo) |
探測器名稱 | Hamamatsu S10420 |
探測范圍 | 200~1100 nm |
像素?cái)?shù)量 | 2048 x 64 |
構(gòu)架 | 面陣背照式 |
探測器面積 | 高0.896 mm,寬28.672 mm |
阱深 | 200 ke- |
峰值量子化效率 | 75% |
QE@250 nm | 65% |
雜散光 | <0.05%@600 nm;<0.10%@435 nm |
- 光譜特性
參數(shù) | 指標(biāo) |
波長范圍 | 視光柵而定 |
信噪比 | 450:1 |
A/D位數(shù) | 16 bits,500 KHZ |
非線性度 | ~4.0% |
動(dòng)態(tài)范圍 | 10000:1 |
積分時(shí)間 | 最小積分時(shí)間7ms |
雜散光 | 0.2% @ 602 nm |
矯正線性度 | > 99% |
Ø USB2.0 @ 480 Mbps接口,USB供電
Ø 微型化,便于攜帶與系統(tǒng)集成
Ø 面陣背照式FFT-CCD
Ø 寬譜段效率均衡,最寬范圍可達(dá)200~1100 nm
Ø 的內(nèi)部交叉光路設(shè)計(jì),有效地抑制雜散光的形成
Ø 光學(xué)分辨率可至~0.035 nm(FWHM)
Ø 可選消高階濾光片用于濾除二階及三階光譜峰
Ø 可選探測器聚光鏡,用于增強(qiáng)信號(hào)收集
型號(hào)說明
型號(hào) | 說明 |
EK2000-Pro | 依賴光柵選擇不同波段 |
EK2000-Pro-EX | 全波段200~1100 nm |