詳細內(nèi)容

SIMS個主要的特征是對表面（固定SIMS）的固定區(qū)域的原位分析。掃描聚焦探測光束（影像SIMS）生成個表面成分圖僅需幾鐘（而不是幾分鐘）。延展的分析通過深度刻蝕表面而顯示表層下面變化的組成（動態(tài)SIMS）。所有這些能在只需少量而不需任何樣品準(zhǔn)備的情形下操作成功，并且具有高靈敏度，同時可使分析時間降至短。

Millbrook MiniSIMS是在個緊湊的半開式可移動中開發(fā)的SIMS功能技術(shù)。僅需個標(biāo)準(zhǔn)的主電源以供操作，放置為方便。的計算機控制使得操作簡便，并且自動獲得數(shù)據(jù)。通過英特網(wǎng)的遠距離控制使您使用SIMS更為方便。

MiniSIMS使得室內(nèi)表面分析儀器，在很大范圍的情形下成為種操作簡便經(jīng)濟實用的方式，低成本的資金和維護費用以及高的樣品產(chǎn)出，意味著每個樣品的總費用要比使用傳統(tǒng)的SIMS儀器減少90%

二次質(zhì)譜儀（SIMS）是沿的表面分析技術(shù)。確立于40多年，它揭示了表面和近表面的原子層的化學(xué)組成。這種信息遠遠超過了為鑒定有機組成部分的分子結(jié)構(gòu)所需的簡單元素分析。

應(yīng)用：

單分子層水平表面信息　　薄膜縱剖面分析

所有元素檢測　　　　　　有機物質(zhì)鑒定

表面污染鑒定 高靈敏度分析

快速化學(xué)組分成像等表面分析域