LS 13 320 XR 采用*的 PIDS 技術(shù)，為您提供的粒度分布數(shù)據(jù)，讓您能夠進(jìn)行高分辨率的測(cè)量并擴(kuò)展動(dòng)態(tài)范圍。如同 LS 13 320，XR 分析儀提供快速、精準(zhǔn)的結(jié)果，并幫助您簡(jiǎn)化工作流程從而達(dá)到效率。一些重大改進(jìn)可讓您更容易察覺(jué)到細(xì)微差異，而正是這些細(xì)微的差異才會(huì)對(duì)您的粒度分析數(shù)據(jù)產(chǎn)生重大影響。

直接測(cè)量范圍在 10 nm – 3,500 µm 之間

自動(dòng)突出顯示合格/不合格結(jié)果從而達(dá)到更快速的質(zhì)量控制

增強(qiáng)版軟件簡(jiǎn)化了標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量方法的創(chuàng)建

全新 控制標(biāo)準(zhǔn)充分驗(yàn)證儀器/模塊的性能

功能

發(fā)現(xiàn)細(xì)微差異

擴(kuò)展測(cè)量范圍：10 nm – 3,500 µm

激光衍射加上*的偏振光強(qiáng)度差散射 (PIDS) 技術(shù)可實(shí)現(xiàn)高分辨率的測(cè)量并可報(bào)告最小為 10 nm 顆粒的真實(shí)數(shù)據(jù)

可在單個(gè)樣品中提供針對(duì)多種粒度的準(zhǔn)確、可靠的檢測(cè)

易于使用的軟件

ADAPT 軟件可自動(dòng)進(jìn)行合格/不合格檢查

只需 3 步或更少，預(yù)配置方法即可呈現(xiàn)結(jié)果

簡(jiǎn)化專(zhuān)家及新手的分析儀操作流程

一步覆蓋歷史數(shù)據(jù)

直觀(guān)的用戶(hù)診斷可在取樣過(guò)程中時(shí)刻對(duì)您進(jìn)行提醒

簡(jiǎn)化標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量的方法創(chuàng)建流程

ADAPT 軟件符合《美國(guó)聯(lián)邦法規(guī)》第 21 章第 11 部分的規(guī)定

可自定義的安全系統(tǒng)滿(mǎn)足多元化需求

可選擇 4 種不同的安全級(jí)別

高級(jí)別的安全配置符合《美國(guó)聯(lián)邦法規(guī)》第 21 章第 11 部分的規(guī)定

PIDS 技術(shù)可直接檢測(cè)大小為 10 nm 的顆粒

用3 種波長(zhǎng)的光（450、600 及 900 nm）通過(guò)垂直和水平偏振光照射樣品

分析儀從多角度測(cè)量來(lái)自樣品的散射光

每種波長(zhǎng)的水平及垂直輻射光之間的差異提供了高分辨率的粒度分布數(shù)據(jù)