QE Pro 高性能光譜儀
QE Pro具有的高靈敏度與寬動(dòng)態(tài)范圍的特性使其成為了同等級(jí)中性能的微型光譜儀。其超高的性能可以大大提高吸光度、反射率、熒光與拉曼檢測(cè)的精確度。而對(duì)于一些更高要求的測(cè)試，其可容納15，000張光譜的緩沖區(qū)可 以在高速采集中保證數(shù)據(jù)的完整性，同時(shí)其*的光學(xué)設(shè)計(jì)與熱電致冷器件可以大大提高長(zhǎng)時(shí)間檢測(cè)的熱穩(wěn)定性。因此無(wú)論是高速測(cè)量或?qū)挐舛确秶臋z測(cè)，QE Pro都能為您的實(shí)驗(yàn)室或在線應(yīng)用提供的性能表現(xiàn)。
寬動(dòng)態(tài)范圍
由于采用了低噪音的電子部分與18位A/D轉(zhuǎn)換器，QE Pro的動(dòng)態(tài)范圍是常見(jiàn)的背照薄型CCD陣列微型光譜儀的2倍，同時(shí)其靈敏度也提高了2倍。這些改進(jìn)可以為實(shí)際應(yīng)用帶了很多好處，如可以使得吸光度或熒光檢測(cè)的檢出限更低，并可以在更寬的濃度范圍內(nèi)進(jìn)行檢測(cè)。
用于快速檢測(cè)的緩沖區(qū)
為了更好地支持快速的全譜數(shù)據(jù)采集，我們?cè)龃罅税遢d緩沖區(qū)，使其現(xiàn)在可儲(chǔ)存15,000光譜，從而在USB通訊的條件下，可以通過(guò)緩沖時(shí)間標(biāo)簽光譜來(lái)保證數(shù)據(jù)的完整性。因此在進(jìn)行全譜動(dòng)力學(xué)檢測(cè)時(shí)，您可獲得8ms/張或125張/秒的全譜動(dòng)力學(xué)數(shù)據(jù)。
可靠性能
熱電致冷可精確的控制檢測(cè)器的溫度，大大的降低熱噪聲的影響，從而改進(jìn)長(zhǎng)時(shí)間檢測(cè)時(shí)的檢測(cè)器的整體穩(wěn)定性。QE Pro配備的熱電致冷器件可在室溫變化60度以上的情況下保持暗噪聲穩(wěn)定在4 counts，從而給您質(zhì)量的數(shù)據(jù)。QE Pro的高穩(wěn)定性表現(xiàn)使其非常適合于那些要求嚴(yán)苛的，對(duì)溫度變化非常敏感的在線或線旁質(zhì)量控制檢測(cè)。
用于定位QE Pro中的光學(xué)器件的動(dòng)態(tài)裝配大大提高了QE Pro的準(zhǔn)確性與可靠性。同時(shí)，新的RS-232通訊協(xié)議允許QE Pro的 Firmware可以進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)升級(jí)，使得您總是可以擁有功能的產(chǎn)品。
| 概覽 | |
| 波長(zhǎng)范圍 | 可在185-1100nm范圍內(nèi)配置 |
| 可更換狹縫 | |
| 光學(xué)分辨率 | 0.14-7.7nm(FWHM)，取決于具體配置 |
| 系統(tǒng)信噪比 | 1000：1 |
| A/D分辨率 | 18bit |
| 動(dòng)態(tài)范圍 | 85，000（典型） |
| 雜散光 | <0.08% at 600 nm;0.4% at 435 nm |
| 緩沖區(qū) | 可容納15，000張譜圖 |
| TE制冷 | 可致冷至比室溫低40攝氏度。使用溫度范圍-40度至50度。 |
