SE500是粗糙度、波紋度和臺階測量儀。
兼容各種參數(shù)和執(zhí)行的多個標準同時分析。以滿足所有應用程序的可擴展單位。
粗糙度儀SE500技術(shù)參數(shù)
標準 JIS(2001/94/82),DIN,ISO,ASME
測量范圍 Z:800μm X: 55 mm
最小分辨率 0.08nm
測量倍率 Z: 50-200,000 or Auto X: 1-1000 or Auto
測量速度 0.05-2 mm/s
組成7種型號，從便攜式類型到固定類型
| 型號 | | SE500 | |
| 測量參數(shù) | Ra、Rz、Rt、Rp、Rv、RSm、Rq、Rsk、Rku、Rmr（c）、Rmr, Rδc、RΔq、Rc、Ry、Rmax、Rpm、Rk、Rvk、Rqk、Pa、Pz、Pt、Pp、Pv、PSm、Pq、Psk、Pku、Pmr（c）、Pmr、Pδc、PΔq、Pc、PPI、Wa、Wz、Wt、Wp、Wq、Wmr（c）、Wsm、WcA、WcM、Sm、S、tp、Htp、Δq、Δa、HSC、λa、λq、Mr1、Mr2、A1、A2 | ||
| 測量范圍 | 縱：800μm 橫：55mm 垂直分辨率：0.08nm | ||
| 高倍 | 垂直 | 50、100、200、500、1,000、2,000、5,000、10,000、20,000、50,000、100,000、200,000、自動 | |
| 橫向 | 1～1,000 自動 | ||
| 截至波長 | 表面粗糙度 | λc 0.08、0.25、0.8、2.5、8.0mm | |
| 輪廓 | λf 0.8、2.5、8.0、25.0mm | ||
| 濾波 | 高斯，2CR，特別高斯 | ||
| 自動調(diào)整 | 全部、前半、后半、中心、兩個點 | ||
| 測量長度 | 評定長度λc制度× 1?× 5，×為n（n：81）系統(tǒng)0.08,0.25,0.8,2.5,8.0毫米標準長度和任意長度為0.001mm | ||
| 測量速度 | 0.05、0.1、0.2、0.5、1.0,2.0mm／s | ||
| 直線度精度 | 0.3μm/55mm | ||
| 探測器 | 測針：R2μm,測力：0.75mN, 60°角 | ||
| 安裝尺寸和重量 | 600×420×190mm 10kg | ||
| 電源電壓 | 単相AC90～240V 50/60Hz | ||
