分辨率 | 1.1 nm (0.5 kV)*1、1.0 nm*2 0.7 nm (1 kV)*1、0.7 nm*2 0.7 nm (15 kV)*1、0.6 nm*2 3.0 nm (5 kV、WD: 10 mm、5 nA)*1 *1: Gap method、*2:Edge method |
倍率 | ×25 ~ ×1,000,000 |
加速電壓 | 0.01 ~ 30 kV |
探針電流 | 數(shù) pA ~ 500 nA |
檢測器(標(biāo)配) | 高位檢測器(UED)、低位檢測器(LED) |
電子槍 | 浸沒式肖特基Plus場發(fā)射電子槍 |
光闌角控制鏡 | 內(nèi)置 |
物鏡 | 超級混合式物鏡/SHL |
自動功能 | 自動聚焦、自動消像散、自動調(diào)節(jié)亮度、自動調(diào)節(jié)襯度 |
大景深模式(LDF) | 內(nèi)置 |
樣品臺 | 全對中測角樣品臺 |
樣品移動 | X:70mm Y:50mm Z:2 ~ 41mm 傾斜軸:-5 ~ 70° 旋轉(zhuǎn):360° |
馬達(dá)驅(qū)動 | 5軸馬達(dá)驅(qū)動 |
樣品交換室 | 直徑: 100mm 高度: 40mm |
抽真空系統(tǒng) | SIP、TMP、RP |