集透射和反射測量于一體,波段覆蓋780-1600nm
NSTAR-200近紅外光譜透反射測量系統(tǒng)集反射和透射測量功能于一體,用于測量材料的光譜反射率/光譜透過率,測量波段范圍覆蓋780-1600nm。系統(tǒng)應(yīng)用遠(yuǎn)方公司多項(xiàng)技術(shù),可快速精確測量近紅外寬波段范圍內(nèi)光譜透反射率,系統(tǒng)測量靈敏度高,穩(wěn)定性、復(fù)現(xiàn)性好,雜散光小,可滿足較低透反射率的深色樣品測量,主要用于各類材料研發(fā)實(shí)驗(yàn)室。主要特點(diǎn):
● 兼容反射和透射測量:反射測量d/8,SCI和SCE可選;透射測量為d/0幾何;
● 附NPL溯源標(biāo)準(zhǔn)色板,溯源性好;
● 穩(wěn)定性好,測量精度高,滿足較低透反射率的深色樣品測量。
型號 | NSTAR-2000 |
測量幾何 | 兼容透反射測量 |
波長范圍 | 780nm~1600nm |
波長準(zhǔn)確度 | ±0.5nm |
反射率范圍 | 0-99% |
測量重復(fù)性 | 0.2% |
測量孔徑 | 反射測量:Ф28mm 透射測量:Ф20mm |
接口 | USB |