性能指標：
1、X-射線光源: 采用高強度微聚焦旋轉陽極光源，Cu靶，功率2.5K W，管電壓50kV，管電流50mA 2、測角儀：四軸（Kappa,ω，2θ，φ）測角儀，?360°旋轉 ≤0.02°步長; ?/2? 步長≤0.002°；角度重現性±0.0001° 3、探測器：大面積photon II探測器，探測器有效面積14cm×10cm,探測器到樣品的距離馬達自動可調
主要應用：
1、精確測定小分子無機物、有機物、配合物以及蛋白質大分子等晶態(tài)物質的三維空間結構(包括鍵長、鍵角、構型、構象乃至成鍵電子密度)及分子在晶格中的實際排列狀況 2、可提供晶體的晶胞參數、所屬空間群、晶體分子結構、分子間氫鍵和弱作用的信息以及分子的構型及構象等結構信息。 3、晶體X-射線衍射數據收集、數據處理（還原、校正）、晶體結構解析、分子圖、分子堆積圖繪制等。
樣品要求：
1、送檢樣品必須為單晶
2、晶體要求表面光潔、顏色和透明度一致
3、單晶表面不附著小晶體，沒有缺損重疊、解理破壞、裂縫等缺陷
4、晶體長、寬、高的尺寸均為0.1 ~ 0.4mm ，即晶體對角線長度不超過0.5 mm（大晶體可用切割方法取樣，小晶體則要考慮其衍射能力）
5. 晶體質量好，可測無機晶體，有機晶體以及MOF
6. 有機和MOF類單晶，在送樣時，應放在母液中，一起寄出
7. 若要解析結構，應提供分子式以及結構式
收費說明：測試不出來不收費；如果我們測出來不是你想要的產物，是要正常收費的，針對這點，如果不清楚的，可以先掃一個晶胞參數看下。后期不收數據了，我們會收取一個晶胞的費用。
