Dimension Icon 原子力顯微鏡 (AFM)的性能、功能及附件等方面具有全新表現(xiàn),在聚合物、半導(dǎo)體、能源、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及材料領(lǐng)域的納米研究中將會(huì)得到廣泛應(yīng)用。Dimension Icon 是 Dimension 系列產(chǎn)品中的新款設(shè)備 。這個(gè)系統(tǒng)經(jīng)過(guò)從上到下的設(shè)計(jì),在易用性、高分辨率及快速 成像等方面有突出表現(xiàn)。
Dimension? Icon? 優(yōu)秀的圖像分辨率,與 Bruker 的電子掃描算法相結(jié)合,顯著提升了測(cè)量速度與質(zhì)量。Dimension? 系列大樣品臺(tái)原子力顯微鏡始終處于行業(yè)優(yōu)秀地位,Dimension? Icon?是針尖掃描技術(shù)的又一次革新,配置溫度補(bǔ)償位置傳感器,實(shí)現(xiàn)了 Z 軸亞埃級(jí)和 XY 軸埃級(jí)的低噪音水平,將其應(yīng)用在 90 微米掃描范圍的大樣品臺(tái)體系上,效果甚至優(yōu)于高分辨小樣品臺(tái) AFM的開(kāi)環(huán)噪音水平。全新設(shè)計(jì)的 XYZ 閉環(huán)掃描頭,即使在較高的掃描速度工作時(shí),也不會(huì)損壞圖像質(zhì)量,實(shí)現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。