7215紅外熱像儀，400-1300nm，光電陰極S-1，P-20 Phosphor熒光
7215紅外熱像儀與VIR觀察儀規(guī)格參數(shù)的對(duì)比表：
| 規(guī)格 | 7215紅外熱像儀 | VIR觀察儀1X | VIR觀察儀2X |
| 光譜靈敏度 | 400-1300nm | VIR-1300-X (350-1300nm) VIR-1700-X (350-1700nm) VIR-2000-X (350-2000nm) | |
| 分辨率(中心) | 60 Lp/mm | 60 Lp/mm | 60 Lp/mm |
| 視場角 | 40° | 40° | 20° |
| 放大倍數(shù) | 1X | 1X | 2X |
| 物鏡 | 25mm f/1.3, Manual Iris Imaging Lens | F1.4/25mm | F1.8/50mm |
| 可調(diào)節(jié)光闌 | 可調(diào)內(nèi)置光圈 | 包含 | 包含 |
| 焦點(diǎn) | 焦距最近75mm | 0.1m to ∞ | 0.5m (0.15m)*到∞ |
| 電池續(xù)航時(shí)間 | 100 hours typical | 50個(gè)小時(shí)(可充電電池) | |
| 重量 | 1.25lb (570g) | 0.4kg | |
| 尺寸 | 3.25"x3.25"x2.25"(8 x 8 x 6 cm) | 53 x184x51mm | |
| 溫度范圍 | 0-40°C | -10oC-40oC | |
| 三腳架或手柄 | 1/4”– 20TPI | R1/4” | |
7215紅外熱像儀與VIR緊湊型紅外觀測儀規(guī)格參數(shù)的對(duì)比總結(jié)：
相同之處：配置參數(shù)基本一致
1、 光學(xué)分辨率都為60 lp/mm；
2、 都有光電陰極S-1，采用P-20 Phosphor熒光屏；
3、 光譜靈敏度都能夠覆蓋400-1300nm。
不同之處：
1、 IR Viewer紅外觀察儀可觀察的光譜范圍更寬，是350-2000nm， 7215的光譜范圍為400-1300nm；
2、 在重量上，IR Viewer紅外觀察儀為0.4kg，而7215為0.57kg；
3、 在電源上，IR Viewer紅外觀察儀支持USB充電，而7215僅能用電池。
買了7215的可以使用IR Viewer紅外觀察儀代替，7215手持式紅外觀側(cè)儀的配置基本等于IR Viewer款VIR系列紅外觀察議的配，型號(hào)為VIR-1300-1的紅外觀察儀。
光譜靈敏度曲線圖：左圖是新款IR Viewer紅外觀察儀，右圖是7215紅外熱像儀
，美國Electrophysics公司提供了一款高性能，手持式的7215紅外熱像儀，光譜范圍是400-1300nm，這款紅外激光觀察儀主要是應(yīng)用于激光光束對(duì)準(zhǔn)，Si, GaAs晶片表面檢測，對(duì)油墨、顏料進(jìn)行法醫(yī)鑒定和熱分布測量等，是很多用戶理想的選擇。但是，7215紅外觀測儀已經(jīng)停產(chǎn)，就用Newport紅外觀測儀，Optogama紅外熱像儀以及IR Viewer紅外觀察儀來替代它，而且每一款都是功能更優(yōu)化，參數(shù)更完善，具備可調(diào)焦鏡頭，設(shè)計(jì)緊湊以及符合手持式人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的近紅外觀察儀。2023年款IR Viewer紅外觀察儀設(shè)計(jì)優(yōu)化，保持前者出色的功能，并完善不足之處，使用可充電電池，操作便捷，使用壽命更長，基本參數(shù)保持不變，使用過7215紅外觀察儀的可以用立陶宛IR Viewer廠家的款VIR可調(diào)焦紅外觀察儀來替代。
左圖為7215紅外熱像儀，右圖為新款IR Viewer紅外觀察儀
美國ElectroViewer公司 7215紅外觀察儀的主要特征：
- 成像質(zhì)量好
- 對(duì)比度高，可呈現(xiàn)很亮的圖像
- 焦距最近75mm
- 可調(diào)光闌
- 可以匹配C接口透鏡
- 可以連接CCTV相機(jī)
- 堅(jiān)固的防震設(shè)計(jì)
美國ElectroViewer公司 7215紅外觀測儀的主要應(yīng)用：
- 激光光束對(duì)準(zhǔn)（如Nd：YAG，鈦藍(lán)寶石激光）
- 砷化鎵激光二極管和紅外發(fā)光二極管觀察
- 在黑暗環(huán)境中進(jìn)行觀察
- 熱分布測量
- 高達(dá)600°C（1112°F）的熱成像
- 對(duì)油墨、顏料進(jìn)行法醫(yī)鑒定
- Si, GaAs晶片表面檢測（表面缺陷檢測，Sub-surface）
