日本SANKO三高SWT系列膜厚儀兩用型探針FN-325
日本SANKO三高SWT系列膜厚儀兩用型探針FN-325
日本SANKO三高SWT系列膜厚儀探針FE-2.5
SWT系列日本SANKO三高探針產(chǎn)品介紹:
由于探頭兼容性,可以與主體自由組合連接。
根據(jù)測量對象連接鐵基(電磁型)或有色金屬基(渦流型)。
可以根據(jù)應(yīng)用和測量范圍選擇探針,例如適用于小塊的測量的高穩(wěn)定性探針等。
探頭(另售)電磁感應(yīng)式
模型Fe - 2.5 * / Fe - 2.5 L.鐵 - 2.5 LwA鐵 - 0.6筆FE-10FE-20測量方法電磁感應(yīng)式測量范圍0至2.50毫米0至600微米0至10毫米0至20毫米顯示分辨率1μm:0至999μm通過切換0.1μm:0至400μm0.5μm:400至500μm0.01mm :1.00至2.50 mm1μm:0至600μm通過切換0.1μm:0至400μm,0.5μm:401至500μm1μm:0至999μm0.01mm :1至10 mm1μm:0至999μm0.01mm :1至5 mm 0.1 mm:5至20 mm測量精度(平滑面為)0至100μm:±1μm 或±2%的指示值101μm至2.50 mm:±2%以內(nèi)0至100μm:±1μm 或在指示值101μm至600μm的±2%范圍內(nèi):在指示值的±2%范圍內(nèi)0至3 mm:±(5μm+指示值的3%)3.01 mm或更大:±3%以內(nèi)探測器1點(diǎn)恒壓接觸型,V切割 2.5:φ15x 47 mm 2.5 L:18 x 22 x 58 mm1點(diǎn)恒壓接觸式測量部分:約24×27×56 mm總長度約550至1,540 mm(伸縮式)1點(diǎn)恒壓接觸式,V切口φ5.6×92.2 mm1點(diǎn)恒壓接觸式,V切口φ20.4×47.1 mm1點(diǎn)恒壓接觸型,V切口φ35x 55 mm選項(xiàng)* 2V型探頭適配器/ - -- -- -- -- -附件用于標(biāo)準(zhǔn)厚板測試的零板(用于鐵)用于標(biāo)準(zhǔn)厚板測試(用于鐵)存儲(chǔ)盒的零板用于標(biāo)準(zhǔn)厚板測試的零板(用于鐵)測量目標(biāo)在鐵·鋼等磁性金屬基底上涂覆,襯里,噴涂,電鍍(不包括電解鍍鎳)等。在磁性金屬底座上涂漆,如鐵·鋼,襯里等。無法到達(dá)的地方,用于測量偏遠(yuǎn)地區(qū)的涂層厚度涂在磁性金屬基底上,如鐵·鋼,襯里等狹窄的地方,小部分用于測量涂層厚度對于相對較厚的測量用于重量測量 |
※探頭耐熱(約200℃)。請?jiān)敿?xì)詢問。 * 2選項(xiàng):V型探頭適配器(3種類型:φ5或更小,φ5到10,φ10到20) |
■探頭(另售)渦流配方 |
模型NFe - 2.0 * / NFe - 2.0 L.NFE-0.6NFE-5NFE-8測量方法渦流公式測量范圍0至2.00毫米0至0.6毫米0至5毫米0至8毫米顯示分辨率1μm:0至999μm通過切換0.1μm:0至400μm0.5μm:400至500μm0.01mm :1.00至2.00 mm1μm:0至600μm通過切換0.1μm:0至400μm0.5μm:400至500μm1μm:0至999μm0.01mm :1至5 mm1μm:0至999μm0.01mm :1至8 mm測量精度(垂直于光滑表面測量)0至100μm:±1μm 或指示值的±2%101μm至2.00 mm:±2%以內(nèi)0至100μm:±1μm 或±2%的指示值101μm至600μm:±2%以內(nèi)0至3 mm:±(5μm+指示值的3%)3.01 mm或更大:在指示值的±3%范圍內(nèi)探測器1點(diǎn)恒壓接觸型,V切割 2.0:φ15x 47 mm 2.0 L:18 x 22 x 57 mm1點(diǎn)恒壓接觸式,V切割φ13×45.5 mm1點(diǎn)恒壓接觸式,V切口φ20.4×47.7 mm1點(diǎn)恒壓接觸型,V切口φ35x 59 mm選項(xiàng)* 2V型探頭適配器/ - -- -- -- -附件用于標(biāo)準(zhǔn)厚板測試的零板(用于有色金屬)測量目標(biāo)絕緣涂層在非磁性金屬基底上,如鋁,銅等。用于相對通用的測量對象適用于薄圓棒,細(xì)管,小件等的高穩(wěn)定性對于相對較厚的測量 |
※探頭耐熱(約200℃)。請?jiān)敿?xì)詢問。 * 2選項(xiàng):V型探頭適配器(3種類型:φ5或更小,φ5到10,φ10到20) |