CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA、CSK-IVA、CSK-IB超聲波試塊
供應CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIA、CSK-IVA、CSK-IB超聲波試塊，同時供應CSK-IA試塊支架，CSK-IIIA試塊翻轉架、CSK-IB試塊支架。
CSK-A、CSK-IIA、CSK-IIIA、CSK-IVA、CSK-IB超聲波試塊
供應CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIA、CSK-IVA、CSK-IB超聲波試塊，同時供應CSK-IA試塊支架，CSK-IIIA試塊翻轉架、CSK-IB試塊支架。
該類試塊依據承壓設備I型焊接接頭超聲檢測要求而設計，適用于將斜探頭、直探頭檢測工件厚度范圍為6mm～200mm的Ⅰ型焊接接頭。試塊設計內容見下表：
CSK-ⅡA-2#測試方法：（1）橫波靈敏度的設定：將選用已校驗好的的斜探頭置于示意圖中a位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第一點。探頭置于示意圖中b位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第二點。探頭置于示意圖中c位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第三點。探頭置于示意圖中d位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第四點。探頭置于示意圖中e位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第五點。探頭置于示意圖中f位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第六點。探頭置于示意圖中g位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第七點。探頭置于示意圖中h位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第八點。探頭置于示意圖中i位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第九點。探頭置于示意圖中j位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第十點。將以上十點連成一條曲線即為標準中規(guī)定的基準線。
（2）縱波靈敏度設定：將選用已校驗好的直探頭置于示意圖中k位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第一點。探頭置于示意圖中l(wèi)位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第二點。探頭置于示意圖中m位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第三點。探頭置于示意圖中n位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第四點。探頭置于示意圖中o位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第五點。探頭置于示意圖中p位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第六點。探頭置于示意圖中q位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第七點。探頭置于示意圖中r位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第八點。將以上八點連成一條曲線即為
