連接時，2182A 型和 6220 或 6221 型可以如同一臺儀器一樣運行。2182A/622X 組合是電阻測量、脈沖式 I-V 測量和微分電導(dǎo)測量的理想工具，比其他解決方案具有更顯著的優(yōu)勢。2182A/622X 組合也非常適合許多納米技術(shù)應(yīng)用，因為它測量電阻時可以不消耗被測器件 (DUT) 的太多功率，否則可能會導(dǎo)致結(jié)果無效，甚至損壞 DUT。
連接時，2182A 型和 6220 或 6221 型可以如同一臺儀器一樣運行。2182A/622X 組合是電阻測量、脈沖式 I-V 測量和微分電導(dǎo)測量的理想工具，比其他解決方案具有更顯著的優(yōu)勢。2182A/622X 組合也非常適合許多納米技術(shù)應(yīng)用，因為它測量電阻時可以不消耗被測器件 (DUT) 的太多功率，否則可能會導(dǎo)致結(jié)果無效，甚至損壞 DUT。
Keithley 6200/2182A 系列超低電阻配置 特點
測量電阻范圍為 10n? 至 100M?
同步的電流脈沖源，測量時間短至 50μs
增量模式電流反向、電阻測量技術(shù)
微分電導(dǎo)測量
納伏表和電流源接口無縫配合
增量、微分電導(dǎo)和脈沖模式產(chǎn)生最小的電流瞬變
Keithley 6200/2182A 系列超低電阻配置 優(yōu)勢
測量范圍非常廣，專門用于超低電阻測量，以檢定高導(dǎo)電性材料、納米材料和超導(dǎo)材料。
限制元器件（如納米器件和納米材料）中的功耗，如果以非常低的功率電平進行測試，這些元器件很容易損壞。
通過消除熱偏移影響以及將讀數(shù)噪聲降低到 30nV p-p 噪聲（典型值），進行精確的超低電阻測量?？梢詫Χ鄠€讀數(shù)進行平均，以更大程度地降低噪聲。
比其他電導(dǎo)測量技術(shù)的速度快十倍，噪聲更小。無需平均多次掃描的結(jié)果，即可實現(xiàn)準確的測量。
在進行電導(dǎo)與電阻測量時，兩臺儀器可以像一臺儀器一樣運行。
可以檢定可易被電流尖峰損壞的設(shè)備。
