Surftest (表面粗糙度測(cè)量?jī)x) SV-3200系列臺(tái)式表面粗糙度測(cè)量?jī)x
配有多種參數(shù)。
評(píng)估型表面粗糙度測(cè)量?jī)x同時(shí)配置分析功能。
●裝置配備FORMTRACEPAK表面粗糙度/輪廓分析程序。
●標(biāo)準(zhǔn)或低測(cè)力檢出器(4mN/0.75mN)的選擇,無(wú)需考慮設(shè)備本體是否有裝配傾斜裝置。
●Z2軸(立柱)的700mm型*新上市
SV-3200系列臺(tái)式表面粗糙度測(cè)量?jī)x技術(shù)參數(shù)
測(cè)量范圍/分辨力 | 800µm/0.01µm, | |
80µm/0.001µm, | ||
8µm/0.0001µm | ||
X軸行程范圍 | 100mm | |
驅(qū)動(dòng)部 | X軸直線度 | (0.05+0.001L)µm (L: 測(cè)量長(zhǎng)度 (mm)) |
測(cè)量速度 | 0.02、0.05、0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、5.0、10、20mm/s | |
Z2軸 (立柱) | 300mm (電動(dòng))*1 | |
評(píng)價(jià)輪廓 | 原始輪廓, 粗糙度輪廓, 波形輪廓, 濾波輪廓, 殘余線輪廓, 滾圓波紋度輪廓滾圓中心線波紋度輪廓, DIN4776輪廓, 粗糙度 motif輪廓, 波形 motif輪廓 |