用于智能化工廠高速檢測的共焦線傳感器 借助 CHRocodile CLS 2.0,您能夠以很高的速度測量高斜率和復雜的表面并且避免陰影。高速 3D 共焦線傳感器幾乎可以對所有材料,甚至是難以測量的材料 進行高度精 確的測量,并且分辨率很高。 | ![]() |
其通用性確保能夠合格完成各種測量。更重要的是,CHRocodile CLS 2.0 還有助于降低運營成本,節(jié)省時間,并確保工業(yè) 4.0 應用中的 99% 控制。
在半導體行業(yè)的應用: 引線鍵合檢測、凸點測量、包裝晶圓邊緣檢查、切割槽檢查、缺陷、裸片裂縫、光掩膜光刻。
優(yōu)勢
——高速度、高精度憑借 2,160 萬個測量點和每秒高達 36,000 行的掃描速度,CHRocodile CLS 2.0 非常適合對周期時間要求的在線質量控制應用。同時,這種傳感器提供的數(shù)據(jù)具有非常高的橫向和軸向分辨率,可實現(xiàn)精準測量。
——高度靈活
這種共焦線傳感器的通用性可滿足各種測量需求,例如,形貌結構和厚度測量、成分、分層、透明材料下的表面,以及復雜的幾何形狀。即使是難以測量的材料,例如漫反射、粗糙、彩色、拋光或反射表面,CHRocodile CLS 2.0 也能高速地進行準確測量。
——無陰影
CHRocodile CLS 2.0 的線性結構與入射光和反射光重疊。因此,在測量特定的幾何形狀時,不會出現(xiàn)任何問題,而三角反射測量則會出現(xiàn)陰影問題。
——易于更換的光學探頭
該傳感器配置了三個易于更換的光學探頭,僅需輕松轉換即可使用合適的探頭。您可以選擇*長達12 mm 線程的探頭,用于大型部件的快速檢測,或者選擇優(yōu) 質數(shù)值孔徑的短線,用于測量高度傾斜的表面,例如測量智能手機、電池或手表顯示玻璃的倒角。
——點密度高
CHRocodile CLS 2.0 以每行 1,200 個點的密度來掃描物體。結合與像素間距相當?shù)臋M向高分辨率和良好的軸向分辨率,可以獲得高密度的必要信息和優(yōu) 質的測量結果。
測量速度:*高每秒 36,000 行
測量范圍:680 - 10600 µm*
橫向分辨率:1 - 8.5 µm*
與外部設備同步:觸發(fā)輸入,同步輸出,5 個編碼器輸入,動態(tài)鏈接庫 (DLL) 示例代碼
* 具體取決于使用的光學探頭
傳感器測量值
| 距離
|
測試速率[線/每秒] | 7930 |
測試速率[線/每秒](縮小的測量范圍) | 18300 |
測試速率[線/每秒](高速模式,縮小測量范圍) | 36000 |
點線數(shù) | 1200 |
與外部設備同步 | 觸發(fā)輸入,同步輸出,5個編碼器輸入 |
接口 | 以太網(wǎng), 服務端口: RS-422, USB |
光源 | 激光二極管 |
工作溫度 | + 5°C 到 + 35°C |
不含探頭尺寸(寬x高x深) | 346 mm x 185 mm x 135 mm |
重量 | 6.2 kg |
電源電壓 | 24 V DC ± 10% |
額定功率 | < 50 W |