特點(diǎn)
FlexSEM 1000 II，憑借全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測(cè)器，可在加速電壓20 kV下實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開(kāi)發(fā)的用戶界面，具有亮度和對(duì)焦自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，可以在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行各種觀察。此外，還搭載了全新的導(dǎo)航功能“SEM MAP”，這個(gè)功能可彌補(bǔ)電子顯微鏡上難以找準(zhǔn)視野的缺點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)最直觀的視野移動(dòng)。
盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡，仍可實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率
憑借高靈敏度二次電子、背散射電子檢測(cè)器、低真空檢測(cè)器(UVD*2)，可在低加速/低真空下觀察時(shí)實(shí)現(xiàn)高的畫(huà)質(zhì)
全新的用戶界面，無(wú)論用戶的熟練程度如何，都可實(shí)現(xiàn)高畫(huà)質(zhì)和高處理能力
全新的定位功能“SEM MAP”，支持觀察時(shí)的視野搜索和樣品定位
大直徑(30毫米2)無(wú)氮EDS檢測(cè)器，可快速進(jìn)行元素分析*2
*1 設(shè)置到桌面上時(shí)，請(qǐng)將機(jī)體與電源盒分離
*2 選項(xiàng)
日立公司掃描電子顯微鏡——FlexSEM 1000。該產(chǎn)品結(jié)構(gòu)緊湊，占地面積小，但分辨率不輸大型電鏡，同時(shí)操作極其簡(jiǎn)便，幾乎不用培訓(xùn)就可操作。緊湊型設(shè)計(jì)，分辨率為4 nm。
掃描電子顯微鏡可對(duì)材料的表面進(jìn)行高倍率觀察及高精度元素分析，在納米技術(shù)、生命科學(xué)、產(chǎn)品設(shè)計(jì)研發(fā)及失效分析等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。 近年來(lái)，掃描電鏡觀察表面精細(xì)結(jié)構(gòu)及元素分析的需求日趨增加，而越來(lái)越多的用戶希望能在生產(chǎn)線、品保檢驗(yàn)線和辦公區(qū)等有限的空間里使用掃描電子顯微鏡。因此，體積小、操作簡(jiǎn)便、分辨率高的掃描電子顯微鏡備受關(guān)注。FlexSEM 1000主機(jī)寬450mm、長(zhǎng)640mm，相比SU1510型號(hào)體積減小52%，重量減輕45%，功耗減小50%，且配備標(biāo)準(zhǔn)化的電源接口。主機(jī)與供電單元可分離，安裝非常靈活。
FlexSEM 1000采用新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和高可靠性、高靈敏度的探測(cè)器，分辨率高達(dá)4nm。FlexSEM 1000有多種自動(dòng)化功能，操作簡(jiǎn)便，即便是初次操作者也能快速拍出高質(zhì)量圖像。另外，新開(kāi)發(fā)的導(dǎo)航功能「SEM MAP」可使用各種光學(xué)圖片或電鏡照片進(jìn)行導(dǎo)航，一鍵就快速精準(zhǔn)地切換至感興趣的高倍率視野。
緊湊型VP-SEM FlexSEM 1000
(主機(jī)與供電單元可分離)
特點(diǎn)：
a. 通過(guò)高靈敏度二次電子探測(cè)器，背散射探測(cè)器，低真空探測(cè)器(UVD*2)，實(shí)現(xiàn)低加速電壓/低真空下高質(zhì)量圖像觀察
b. 操作簡(jiǎn)捷，即使新手也能拍出高質(zhì)量的圖片
c. 新開(kāi)發(fā)的導(dǎo)航功能「SEM MAP」，便于快速鎖定視野
d. 大窗口(30 mm2)SDD能譜系統(tǒng)，便于快速分析元素成分*2
*1 設(shè)置在桌面時(shí)，分離主機(jī)和電源箱
*2 選配
參數(shù)
