ICT33C集成電路測(cè)試儀

*器件好壞判別：當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí)，儀器可判斷其好壞。
*器件型號(hào)判別：當(dāng)不知被測(cè)器件型號(hào)時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯功能來(lái)判斷其型。
*器件老化測(cè)試：當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。
*器件代換查詢：儀器可顯示有無(wú)邏輯功能一致、引腳排列一致的器件型號(hào)。
*內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改：ICT-33C可從鍵盤對(duì)自己內(nèi)部RAM 中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)修改。
*EPROM、EEPROM器件讀入：ICT-33C可將64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀入并保存。
*EPROM、EEPROM器件寫入：ICT-33C可將內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)寫入到64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件中，并自動(dòng)校驗(yàn)。

技術(shù)參數(shù):

可 測(cè) 器 件（1300多種）
1.CMOS40系列：103種。
2.CMOSMC140系列：103種。
3.CMOS45系列：60種。
4.CMOSMC145系列：60種。
5.光耦合器系列：133種。
6.TTL74/54系列：714種。
7.TTL75/55系列：82種。
8.數(shù)碼管系列： 0.5吋共陽(yáng)[001]；共陰[002]；0.3吋共陽(yáng)[003]；共陰[004]； 0.7吋共陽(yáng)[005]；共陰[006]。
9.常用RAM系列： 6 60256 628128
10.EEPROM系列： 2864 28256 28040 29101
11.EPROM系列： 2764 27128 27256 27512
12.微機(jī)外圍電路系列： Z8OCTC(8O2)
13.常用單片機(jī)系列：
14.其他系列： 2633 339 192 293 393 555 556 324 22100 8832 3 446MC) MC1416(2004) MC14160(40160) DG201 MC14161(40161) MC14162(40162) MC14163 (40163) TIL308 MC14189(75189) 2902(324) 8T26(826) AD7506