詳細(xì)信息
X射線熒光分析法原理及特點(diǎn)
用X射線轟擊樣品，樣品受激發(fā)后產(chǎn)生X射線熒光，X射線通常把元素原子層K層和L層的內(nèi)層電子打出原子，產(chǎn)生的空穴被高能量的外層電子。補(bǔ)充到低能量軌道上的高能量電子把多余的能量以X射線熒光輻射出來。這些輻射出來的譜線中含有各種元素的特征，像指紋一樣，并且獨(dú)立于原子的化學(xué)價(jià)態(tài)。輻射的強(qiáng)度與樣品中該元素的濃度成正比。
應(yīng)用領(lǐng)域
性能特點(diǎn)
儀器體積更小、重量更輕，方便攜帶。
高速處理芯片的算法和軟件相配合，使得儀器分析速度更快。
選用高性能X光射線發(fā)射管和高分辨率探測(cè)器，結(jié)合數(shù)字多道處理技術(shù)，使得TrueX手持式X熒光光譜儀具有高分析精度。
用戶可自定義創(chuàng)建報(bào)告：包括公司標(biāo)志、公司地址、檢測(cè)結(jié)果、光譜譜圖及其他樣品信息（如產(chǎn)品描述、產(chǎn)地、批號(hào)等）。
內(nèi)置的環(huán)境感應(yīng)系統(tǒng)。使得TrueX能夠?qū)崟r(shí)感知周圍環(huán)境變化，并自動(dòng)做出參數(shù)調(diào)整，以適用高低溫、粉塵、陰暗潮濕等端條件下的元素分析。
內(nèi)置DoubleBeam™技術(shù)自動(dòng)感知儀器前方有無樣品， 提高射線的安全性和防護(hù)等級(jí)。且自動(dòng)根據(jù)外部環(huán)境亮度調(diào)節(jié)顯示器亮度。
可將設(shè)備聯(lián)入互聯(lián)網(wǎng)，可遠(yuǎn)程對(duì)儀器進(jìn)行設(shè)置及檢修。
TrueX內(nèi)置的全新凈強(qiáng)度擬合算法，優(yōu)化了光譜解析過程，使得TrueX擁有與實(shí)驗(yàn)室大型設(shè)備相媲美的低檢出限。
具有MSBUS總線的智能電池、實(shí)時(shí)監(jiān)控電池、備用電池可直接查看電池剩余容量。
工業(yè)電阻觸摸屏，相比電容屏具有更優(yōu)異的背光性能，在野外強(qiáng)光下依然清晰可見，同時(shí)免除野外特殊環(huán)境脫手套操作的危險(xiǎn)性。
技術(shù)參數(shù)及規(guī)格
