鍍層測厚儀XF-P1
XF-P1型鍍層測厚儀是一款面向鍍層、膜厚、涂層行業(yè)厚度無損檢測的X射線熒光光譜儀,可廣泛應(yīng)用于涂層厚度產(chǎn)品質(zhì)量的管理。該產(chǎn)品既可以分析各種金屬涂層厚度以及成分分析,可同時分析基材和鍍材的成分及厚度。采用基本參數(shù)法算法,無需標(biāo)樣,檢測速度快,測試穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高。
產(chǎn)品展示
產(chǎn)品特點(diǎn)
元素檢測范圍:鋁(3)~鈾(No.92)
分析范圍:≤50μm
檢測精度:相對誤差≤±1%(最小基體影響)
檢測樣品:鍍層厚度/成分/液體濃度。
定制TCP/IP協(xié)議API接口,支持對模塊的控制、狀態(tài)監(jiān)控及數(shù)據(jù)采集
支持配件:XY平臺微動裝置
XY雙軸行程:±15mm
產(chǎn)品規(guī)格
輸入電壓:交流100~240V,50Hz
產(chǎn)品包裝尺寸:770mm x 510mm x 400mm
產(chǎn)品尺寸:467mm x 345mm x 336mm
樣品腔尺寸:306mm x 248mm x 124mm
額定功率:<150W
毛重:50KG
凈重:32KG
噪音:50dB
使用環(huán)境:
溫度:15℃~31℃
濕度:<70%(不結(jié)露)
核心部件
探測器:AMPTEK定制版Fast-SDD探測器
內(nèi)置工控電腦:四核i5工控電腦
高壓電源:50KV/1mA數(shù)字高壓電源
X射線管:50KV/1mA
窗口材料:鈹窗
靶材:鎢
焦點(diǎn):? 0.1mm
準(zhǔn)直器:0.1mm×0.2mm/0.2mm×0.5mm/?1.0mm
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