1. 產(chǎn)品簡(jiǎn)介
ANT-HPGe反宇宙射線高純鍺γ能譜儀由HPGe主探測(cè)器、內(nèi)層屏蔽體、反宇宙射線探測(cè)器和外屏蔽室、反宇宙射線電子學(xué)模塊、多道分析器、能譜分析軟件、液氮回凝制冷機(jī)、無(wú)源效率刻度軟件等組成,主探測(cè)器室充氮?dú)膺M(jìn)一步降低氡子體對(duì)本底的貢獻(xiàn),采用貼鎘片的方式降低熱中子對(duì)本底的貢獻(xiàn)。特別是ANT-HPGe配置了基于三維激光掃描的無(wú)源效率刻度軟件,極大地提高了ACT-HPGe反康譜儀的非破壞性活度測(cè)量能力,如對(duì)于異形的活化樣品,可以快速、非破壞性地測(cè)量其活度。下圖為ANT-HPGe裝置和反宇宙射線譜儀和一般低本底譜儀測(cè)量結(jié)果比較。
2. 典型技術(shù)指標(biāo)
l 2種工作模式:反宇宙線模式、直接測(cè)量模式,方便測(cè)試不同類型的樣品。
l 積分本底:
無(wú)反符合狀態(tài):小于等于1.5CPS;
僅反宇宙射線狀態(tài):小于等于0.2CPS。