儀器特點：
1．儀器中有小型標準黑體輻射源，采用六位高精度微機控溫儀(能顯示到1mk)，使儀器不僅具有穩(wěn)定的寬光譜測量范圍，而且*地提高了儀器在測量時的可靠性和穩(wěn)定性。
2．采用了*的光學調制技術，使測量不受被測物表面輻射及環(huán)境輻射的影響。
3．在儀器設計中，考慮到樣品漫反射引起的測量誤差，除鏡反射(MR)探測通道外，還增設了專門的漫反射(DR)補償通道，從而確保了儀器的測量精度。
4．在信號及電子學處理技術上采用鎖相技術和微電子技術，較好地實現(xiàn)了對微弱信號的探測，進一步提高了儀器性能。
5．本儀器操作簡單、使用方便、測量快速。
6．可按需更換濾光片，在多個紅外光譜波段內進行測試。
7．在測量過程中不損傷被測樣品。
8．本儀器帶RS-232串口及復位鍵RST。
主要技術指標
1．測量波段：3～5um、8～14um、1～22um
(若用戶有特殊要求，可定制不同波段濾光片)
2．發(fā)射率測量范圍：0.1～0.99
3．靈敏度NE△ε：0.001
4．示值誤差：±0.02 (ε>0.50)
5．重復性：±0.01
6．樣品溫度：常溫(特殊用戶為常溫～300℃)
7．樣品尺寸：>Ф50
8．測量時間：3秒后按測量鍵E，即顯示ε測量值。
9．顯示方法：LED數(shù)字顯示，末位0.001
10.電 源： 交流220V 50HZ
