Scios™ 是一款超高分辨率DualBeam™ 分析系統(tǒng)，能為包括磁性材料在內的眾多樣本提供出色的二維和三維性能。Scios 的創(chuàng)新功能可提高通量、精度與易用性，適于學院、科研院所環(huán)境中的納米量級研究與分析。
高級檢測技術是Scios 的核心技術。透鏡內Trinity™ 檢測技術能夠同時收集所有信號，既節(jié)省了時間還能形成鮮明的對比度，從而有助于采集盡可能多的數(shù)據(jù)。創(chuàng)新的透鏡下同心后散射檢測器能提高效率，使您可以根據(jù)信號的角分布選擇信號，從而輕松分離材料和形態(tài)對比度，即使著陸能量為20 eV 也是如此。
Scios 的材料科學應用
Scios DualBeam 特別適合用于金屬、復合物和涂層等眾多材料，能夠：
l 執(zhí)行高分辨率、高對比度成像，對磁性樣本也不例外
l Trinity 檢測套件同步檢測材料、形態(tài)和邊緣對比度，從而分析材料的全部屬性
l 借助漂移抑制光刻，無需制備樣本即可制作具有位置特異性的切片，甚至可以對非導電材料進行操作
l 生成三維數(shù)據(jù)立方體確定金屬中夾雜物的大小和分布，或對裂紋各個方向的應力和應變進行分析
l 搭配EasyLift™ 可快速可靠地制備高質量樣本，而且只需微量的電子束能量即可獲得更高質量的S/TEM 結果
l 針對DealBeam TM 常見應用提供“用戶指南”和逐步工作流，使得任何經(jīng)驗水平的操作員都能即刻上手
