掃描電鏡原位拉伸臺(tái)是一種動(dòng)態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂機(jī)制的手段,在材料科學(xué)前沿研究中發(fā)揮了重要作用。

      GATAN公司MICROTEST系列樣品臺(tái)可以為很多材料做拉伸測(cè)試，如金屬材料（研究韌斷過(guò)程、應(yīng)力誘發(fā)相變及塑性變形等），高分子材料等。通過(guò)掃描電鏡對(duì)微觀結(jié)構(gòu)的形態(tài)變化進(jìn)行原位成像，從而深入理解形態(tài)變化的原因并對(duì)變化時(shí)刻進(jìn)行成像。結(jié)合對(duì)動(dòng)態(tài)實(shí)驗(yàn)的信息可以克服對(duì)傳統(tǒng)的應(yīng)力/應(yīng)變數(shù)據(jù)解釋的不確定因素。針對(duì)拉伸、擠壓和彎曲測(cè)試，我們提供很多款裝置，負(fù)載范圍從2N到5000N。

      MICROTEST原位拉伸臺(tái)針對(duì)SEM而特殊設(shè)計(jì)，有四個(gè)版本可以使用，200N、300N、2KN、5KN

      MICROTEST系列拉伸臺(tái)技術(shù)特點(diǎn)：

      較大載荷范圍：200N, 300N, 2000N 和5000N

      可更換的稱量傳感器量程小到 2N

      應(yīng)變速率：5 μm/min 到 6 mm/min

     可選3- 點(diǎn)和 4-點(diǎn)水平彎曲附件

     EBSD 樣品專(zhuān)用附件

     加熱和水冷臺(tái)上配備的定制鉗口

     簡(jiǎn)單的軟件用戶界面提供了實(shí)時(shí)定量數(shù)據(jù)曲線，結(jié)合靈活的閥值可以進(jìn)行復(fù)雜的實(shí)驗(yàn)，包括循環(huán)負(fù)載。

     支持同步圖像和數(shù)據(jù)采集。可以通過(guò)影響對(duì)樣品變化過(guò)程進(jìn)行細(xì)節(jié)分析。

1、MICROTEST 200系列拉伸臺(tái)

        動(dòng)態(tài)測(cè)試臺(tái)，在SEM內(nèi)外都能操作。大200 N負(fù)載，可以進(jìn)行拉伸、擠壓操作，可配水平方向上3或4點(diǎn)彎曲。MICROTEST 200B可以實(shí)現(xiàn)垂直三點(diǎn)彎曲。

2、MICROTEST 300系列拉伸臺(tái)

        動(dòng)態(tài)測(cè)試臺(tái)，在SEM內(nèi)外都能操作。大300 N負(fù)載，可以進(jìn)行拉伸、擠壓操作，可配水平方向上3或4點(diǎn)彎曲。MICROTEST 300B可以實(shí)現(xiàn)垂直三點(diǎn)彎曲。

3、MTEST2000系列拉伸臺(tái)

        MTEST2000和MTEST2000E動(dòng)態(tài)測(cè)試樣品臺(tái)模塊，大載荷為2000N,在掃描電鏡 (SEM)里面和外面都可以使用。MTEST2000可以工作在拉伸或壓縮模式，并可選配水平彎曲夾具。MTEST2000B設(shè)計(jì)用于垂直的3-/4-點(diǎn)彎曲。MTEST2000E拉伸臺(tái)設(shè)計(jì)用于配置EBSD的掃描電鏡研究（MICROTEST 2000ES室溫版本，MICROTEST 2000EW水冷版本，是加熱夾具的基本配置，同時(shí)可以選配EH 2000升級(jí)為可實(shí)現(xiàn)加熱狀態(tài)下拉伸測(cè)試）。

4、MTEST5000 系列拉伸臺(tái)

       MTEST5000是一個(gè)可工作于拉伸或壓縮模式的高載荷(5000N)動(dòng)態(tài)測(cè)試樣品臺(tái)模塊，可以進(jìn)行拉伸、擠壓操作，可配水平方向上3或4點(diǎn)彎曲。（MICROTEST 5000S為室溫版本，MICROTEST 5000W為水冷版本，是加熱夾具的基本配置，同時(shí)可以選配H5000升級(jí)為同時(shí)進(jìn)行加熱或冷卻狀態(tài)下的拉伸測(cè)試）